idonus MAS+DIM 掩膜对准系统 掩膜与基板精准对准 · 真空夹持 · 双图像显微镜实时监控,对准精度达 ±5μm

idonus MAS+DIM 掩膜对准系统

掩膜与基板精准对准 · 真空夹持 · 双图像显微镜实时监控,对准精度达 ±5μm

±5μm对准精度3轴手动对准 X/Y/θ双摄像头同步监控真空夹持固定
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什么是阴影掩膜对准?

idonus 掩膜对准系统(MAS)专为掩膜与基板的高精度对准而设计。使用阴影掩膜(shadow mask),您可以跳过光刻工艺,直接在基板上进行薄膜沉积——对准后将掩膜与基板夹持在双卡盘中,整体送入 PVD 腔体进行蒸发或溅射镀膜。

💡 核心价值:免光刻、免涂胶、免显影——掩膜对准即直接沉积,大幅缩短工艺流程,降低成本。

三大核心设计理念

🔧

极简操作

真空夹持 + 3 轴手动对准(X / Y / θ),操作直观简便,上手即用。

📐

灵活适配

兼容多种晶圆尺寸与形状(标准/非标),卡盘按需定制,一套设备适配多种工艺。

🎯

精密对准

搭配双图像显微镜(DIM),可同时聚焦两个对准标记位置,对准精度达 ±5μm。

两大核心模块,独立或组合使用

MAS

Mask Alignment System · 掩膜对准系统

  • 独立设备,含可拆卸载物台,便于卡盘装卸与对准操作
  • Z 轴控制卡盘接触,实现掩膜与基板精密贴合
  • 真空控制系统,精准调节晶圆与卡盘夹持力
  • 双晶圆/掩膜卡盘,夹持后直接进入后续工艺
  • 支持多种晶圆尺寸与形状,卡盘按需定制

DIM

Double Image Microscope · 双图像显微镜

  • 双摄像头同步监控,PC 端实时显示两个对准位置
  • 对准精度高达 ±5μm
  • USB 3.0 高速传输,实时图像无延迟
  • 可同时聚焦并可视化两个对准标记,简化对准流程
  • 可独立使用,也可与 MAS 组合为 MAS+DIM 系统

六步完成掩膜对准 — 工艺流程

1

装载基材

上下卡盘分别夹持晶圆与掩膜

2

进入对准位

上卡盘(掩膜)移至对准位置,晶圆待装载

3

精准对准

DIM 双摄像头监控,X/Y/θ 三轴微调至 ±5μm

4

机械锁紧

对准完成后,上下卡盘机械夹紧为一体

5

卸载卡盘

将夹紧的双卡盘整体从对准台上取下

6

进入工艺

卡盘与基材送入 PVD / 溅射等下一道工序

关键技术规格

参数规格
对准精度±5 μm(搭配 DIM 双图像显微镜)
对准轴X / Y / θ 三轴手动对准
Z 轴功能卡盘接触控制
夹持方式真空夹持,可调节夹持力
卡盘类型双卡盘(晶圆 + 掩膜),夹持后直接进工艺
晶圆兼容多种尺寸与形状(标准/非标),按需定制卡盘
DIM 摄像头双摄像头,USB 3.0 接口,PC 端实时监控
DIM 功能同时聚焦两个对准标记位置
系统组合MAS 独立 / DIM 独立 / MAS+DIM 组合
后续工艺PVD 蒸发、溅射等薄膜沉积工艺

广泛的应用领域

🌑

阴影掩膜沉积

免光刻直接薄膜沉积,PVD 蒸发/溅射

☀️

UV 光掩膜

紫外光通过掩膜进行选择性曝光

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纳米压印

Nanoimprinting 模板与基板精密对准

🔗

键合对准

Bonding alignment 晶圆键合前精对准

学术验证

idonus MAS+DIM 系统已在多项学术研究中得到验证与引用。代表性论文发表于 Journal of Microelectromechanical Systems(IEEE JMEMS, 2016),题为 “Metal-Coated SU-8 Structures for High-Density 3-D Microelectrode Arrays”,展示了该系统在高密度三维微电极阵列制造中的实际应用。

【idonus MAS+DIM 掩膜对准系统 — 瑞士精密,免光刻薄膜沉积新方案】 还在为薄膜沉积前的光刻工艺烦恼?掩膜对准 + 直接沉积,一步到位。 idonus MAS+DIM,来自瑞士的掩膜对准系统,让阴影掩膜与基板精准对准,跳过光刻步骤,直接进入 PVD 蒸发或溅射工艺。 ▎什么是阴影掩膜对准? 使用阴影掩膜(shadow mask),将掩膜与基板精密对准后夹持在双卡盘中,整体送入 PVD 腔体进行薄膜沉积。免涂胶、免曝光、免显影——工艺流程大幅缩短。 ▎三大核心设计理念 🔧 极简操作 — 真空夹持 + 3 轴手动对准(X/Y/θ),直观简便,上手即用 📐 灵活适配 — 兼容多种晶圆尺寸与形状(标准/非标),卡盘按需定制 🎯 精密对准 — 搭配 DIM 双图像显微镜,同步监控两个对准标记,精度达 ±5μm ▎两大模块,灵活组合 【MAS — 掩膜对准系统】 独立设备,可拆卸载物台,Z 轴接触控制,真空夹持力可调,双卡盘夹持后直接进工艺。 【DIM — 双图像显微镜】 双摄像头 USB 3.0 实时监控,同时聚焦两个对准位置,对准精度 ±5μm。可独立使用或与 MAS 组合。 ▎六步完成对准 ① 装载基材 → ② 进入对准位 → ③ DIM 监控三轴微调 → ④ 机械锁紧 → ⑤ 卸载卡盘 → ⑥ 送入 PVD 工艺 ▎应用领域 阴影掩膜沉积 · UV 光掩膜 · 纳米压印 · 键合对准 · 及更多 ▎学术验证 成果发表于 IEEE Journal of Microelectromechanical Systems(2016),已应用于高密度三维微电极阵列等前沿研究。 — idonus sàrl | 瑞士制造,值得信赖 —

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