Sumix MAX-QM+白光干涉仪
MAX-QM+白光干涉仪是一款自动干涉仪，用于检测MTP®/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000™，SMA类型以及MT, MT- rj插套的单光纤和多光纤连接器。
MAX-QM+白光干涉仪是一款具有高测量速度，便携式设计，自动对焦和每行可测试12或16根光纤的大视场，使MAX-QM+白光干涉仪成为大批量生产线非常受欢迎的解决方案。
MAX-QM+白光干涉仪提供业界领先的MaxInspect 软件，用于光纤连接器的干涉检测。
Sumix MAX-QM+干涉仪技术参数：
测量技术: 非接触式，迈克尔逊干涉原理
镜头: NA = 0.15，平面度误差< λ/50
照明: 绿色LED (530nm)
视场: 5.6 × 4.2 mm
横向分辨率: 2.2µm
放大倍数: 100x(数码变焦关闭)
聚焦: 自动和手动
最大图像尺寸: 2590 × 1940 像素
可匹配连接器/连接管(PC和APC): MTP®/MPO, MT, MT16/32, MT-RJ, SMA, SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MIL Spec termini
显微镜模式: 无
测量模式: 相移和白光
扫描计算时间（测量时间可能因计算机性能和连接器端面形状而异）：
1 sec 用于单光纤,3 sec 用于MT12, 6.9 sec用于MT16, 4.9 sec 用于MT24, 5.7 sec 用于MT72.
测量范围: ROC (mm): 1至flat; 顶点偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纤高度:大于1000um; 角度测量-全范围(度):0至28度
可重复性C.F.: ROC: 0.9 % (MT12); 0.04 % (SC/PC)
Fiber Height: 0.8 nm (MT12); 0.1 nm (SC/PC)
Angles: 0.005 deg (MT12); 0.0002 deg (SC/PC)
Apex Offset: 0.04 µm (SC/PC)
可重复性C.R. : ROC: 1.2 % (MT12); 0.05 % (SC/PC)
Fiber Height: 1.1 nm (MT12); 0.4 nm (SC/PC)
Angles: 0.01 deg (MT12); 0.006 deg (SC/PC)
Apex Offset: 1.1 µm (SC/PC)
MAX-QM+干涉测量系统包括:
MAX-QM+干涉仪
光学平面标准
USB 3.0电缆
AC适配器
包装箱
MaxInspect 软件
固定装置和其他配件需单独订购。
