VariGATR™ Grazing Angle Accessory ATR附件

VariGATR™ Grazing Angle ATR附件是分析半导体和金属基板上的单层的革命性方法。VariGATR™ 是可变角度,因此,对于这些类型的样品,可以针对最高的灵敏度进行优化。其专门设计的压力施用器经过优化,可为样品和 Ge ATR 晶体提供良好的接触。VariGATR™ 非常适合快速、可重复的测量,并且相对于放牧角度方法,灵敏度至少提高了一个数量级。此外,它还提供了易于使用、完全预对齐的水平采样附件的便利性。

特点：

方便的水平采样表面。
内置压力施用器,带滑动离合器,可重复压力应用。
从 60o 到 65o 的连续可变角度,可实现最佳灵敏度的优化。
抗反冲机制允许精确、可重现的角度选择。
安装 Ge ATR 晶体。
可容纳多达 8* 的样品。直径,圆盘的中心采样直径可达6″。
permaPurge™用于快速清除系统。
选项包括:
用于增强光谱对比度和方向研究的线栅偏振器。包括滑动板安装。
带数字读数的力传感器,用于精确测量施加的力,以实现 ATR 晶体与样品之间的接触。
提供低扭矩滑离合器。
大样本的角刻度查看助手。

包括

格半球ATR晶体。
内置压力施用器,设计用于容纳大型样品。
用于指定光谱仪的安装硬件。