H.VIR系列红外窗口、H.VIR 85 type 21红外窗口、H.VIR 85 type 21光学窗口、热成像检测红外窗口

H.VIR 85 type 21是 H.VIR系列中最常用的红外窗口，能满足电气设备热成像检测中最常见的要求。它使您能够在正常负载电气条件（低压及高压）下，借助红外摄像机进行预防性维护。

您可以将 H.VIR 85 type 21红外窗口安装在新设备上，或对现有设备进行改造升级（其使用寿命与设备整体寿命相同）。与 H.VIR系列的其他光学窗口一样，H.VIR 85 type 21无需预先检查即可帮助您预防与电气设备相关的任何风险。

H.VIR 85 type 21红外窗口 – 技术参数

• 工作波段：0.3 µm 至 13 µm

• 紫外线敏感度：无

• 光学窗口质量：

  • 平行度：< 3 µm

  • 平整度：5(2)

  • 表面光洁度：P4（划痕/麻点：20/40）

• 工作温度：-40°C 至 +70°C

• 边框电气绝缘性能：

  • 20°C 时电阻率：4 × 10¹⁵ Ω·cm²/m

  • 100°C 时电阻率：8 × 10¹⁵ Ω·cm²/m

在电气设备上安装用于热成像检测的H.VIR 85 type 21红外窗口，不会降低或影响设备的安全等级。与整个 H.VIR系列产品一样，H.VIR 85 type 21光学窗口可保障控制设备与基础设施的安全。该型号红外光学窗口符合现行国际标准以及电气材料制造商的具体规格要求。