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标签： TEC 4000

TEC 4000 X射线衍射系统 ASTM E915残余应力和ASTM E975残余奥氏体分析

TEC 4000 X射线衍射系统 ASTM E915残余应力和ASTM E975残余奥氏体分析

2019年11月8日2019年11月8日汪经理电话：17717301704

销售代表

关于TEC

自1982年以来，TEC就设计和制造了X射线衍射（XRD）系统，TEC在材料测试中为残余应力和残余奥氏体测量设定了行业标准。

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