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德国 Sinterface 薄膜分析仪 TFA-1 薄膜材料热分析仪

微观泡沫和乳胶膜的形成、性能观察和几种物理化学参数的测定
其原理是基于众所周知的薄膜液体-压力平衡技术。在改进的Scheludko-Exerowa电池中获得微观泡沫和乳液膜,特别是为在该仪器的紧凑结构中实现最佳兼容性而设计的。用干涉法测量薄膜厚度。该仪器配有数码相机,可同时观察胶片和测量其厚度,两者均由现代Windows软件控制。
德国 Sinterface 薄膜分析仪 TFA-1 薄膜材料热分析仪仪器部分:
蔡司逆显微镜AXIO Observer.A1m配有数码相机和 -单色光源
                                                                                            -光传感器模块温度控制测量单元有两种修改,
允许:
i) 在恒定毛细管压力下成膜
ii)在薄膜上施加外部压力
-压力控制单元

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