美国ramé-hart测角仪/张力仪仪器Model 400

ramé-hart Model 400
Goniometer / Tensiometer

带晶片支撑的400型测角仪/张力计是为半导体行业设计的。该模型包括标准的3轴水平试样台以及21英寸长的工作台。该系统还包括一个直径为8英寸(200毫米)的旋转晶圆支架,可以将其升级为10英寸或12英寸或13.625英寸,甚至可以安装6英寸或4英寸的支架。也可以选择6“和8”直径的真空吸盘。此外,可以根据客户要求构建自定义支持选项。

Model 400包含DROPimage Pro软件-能够测量接触角表面能表面张力界面张力。该仪器附带PC和LCD。该 自动配送系统 是最流行的升级选项。基于久经考验的ram-hart设计构建的价格合理的解决方案使Model 400测角仪/张力计在行业中非常受欢迎,尤其是芯片制造商或任何与晶圆或尺寸相似的基板打交道的实验室。

包装盒中的物品:带有U4系列520帧/秒SuperSpeed数码相机的21英寸测角仪工作台,3轴位移台,水平仪平台,直径为8英寸的旋转晶圆支架,光纤照明器,PC,LCD,电缆,(1)微注射器组件,(1)22克直针,DR​​OPimage Pro软件单用户许可,软件用户手册,设置指南,校准工具和存储盖-进行接触角和表面能测量所需的一切,使其正常运行。

在半导体制造过程中,此工具用于测量涂层和表面处理的质量和均匀性。大直径形状因数也适用于玻璃,硬盘盘和其他较大的平面。

400型的热门选择
100-22 自动点胶系统
100-21-VC 真空吸盘
100-15 胶片夹
100-30 珀尔帖环境会议厅
100-12-U2 U2系列SuperSpeed 750FPS升级套件*
900-24 DROPimage高级升级
* U2升级需要DROPimage高级升级

ramé-hart400型有一个 在产品初级中的独特层次 ramé-hart提供的仪器 仪器公司:这是唯一一个 专门建造的 并且针对特定的 工业半导体 制造者。 今天的芯片制造商也参与其中 在最技术性和 具有挑战性的制造任务。 加工方法需求 越来越复杂 复杂的方法和 检测监控系统 最高和减少 除气(分子 污染,或MC) 会降低产量 利润。 ramé-hart一直是 帮助芯片制造商检测 过量的甲基纤维素 接触角。纯去离子水 水滴沉积在 氧化的硅片 在普通洁净室下 制造条件。如果 接触角高于α 特定设定点,然后是过量 有机冷凝已经 发生了。 经过具体和高度 坚持清洁过程 发生时,晶片再次被通过接触角检查 确保他们没有 最高。 我们的400型汽车曾用于 世界上第一个10k洁净室 菲律宾就是为了这个目的。 虽然模型400被优化有用 芯片制造商也很合适 对于其他需要 一个旋转的大圆 标本台。 附带的DROPimage专业版 软件测量,除了 接触角,表面能 (使用七种不同的方法), 以及表面和界面 紧张。 400型很容易 定制的。自动化的 配药系统是一种流行的 质量控制中的选项和建议 许多测试的环境 每天在哪里制作 重复性很重要。 旋转芯片支架可以 也可以升级到阳离子的10, 12英寸甚至13.625英寸支架,或者 降级到6或4英寸 支持。 真空吸盘可用于 6英寸和8英寸的尺寸。


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