2025年6月26日 汪经理 电话:17717301704RHEED 反射高能电子衍射系统 RDA-003G / RDA-004P 分子束外延R-DEC 30 keV 高能电子枪及其控制器 广泛应用于 MBE(分子束外延)与其他表面科学研究中的 RHEED 测量。🌟 系统特点:操作效率高,性价比优越远程控制盒集成:加速电压与发射电流读数显示可边观察衍射图像边操作,提升安全性与效率维护简便:灯丝更换与电子束对准快速完成操作参数保持稳定,无需频繁微调可调参数包括:高压、电流、XYZ 透镜 调节电子枪内部表面处理:有效控制真空系统中的逸出气体(Outgassing) RDA-003G RDA-004P RHEED 分子束外延 反射高能电子衍射系统
LK Technologies,电子分析仪与光谱仪LK2000,LK2000 电子能量损失分析仪,高分辨电子能量损失谱仪,LK2000 表面振动能谱模块,通用型超高真空电子分析仪,LK2000 振动光谱检测组件,进口 HREELS 表面分析设备,属表面烃类吸附,适配 RVL2000 LEED 低能电子衍射,高校表面物理实验室 LK2000 谱仪,工业实验室标配主力设备
LK Technologies,电子分析仪与光谱仪,ELS5000,LK ELS5000 高分辨电子能量损失谱仪,电子能量损失分析仪,超高分辨 HREELS 光谱仪,LK5000 表面振动谱仪,超高真空电子损失能谱分析模块,表面声子等离子体检测仪,美国 LK 电子能量损失光谱仪,ELS5000 超高分辨能谱模块
LK Technologies,电子分析仪与光谱仪,MINICMA ™,同轴电子枪,通用电子能量分析,紧凑型柱面镜电子分析仪,AES/UPS/XPS 俄歇光电子光谱仪,MINICMA 电子分析仪,2.75 英寸 CF 法兰安装,双通电子光学系统,能量分辨率优于 0.8%