自 1998 年以来，LK Technologies 已向全球范围提供高端 LEED 系统，广泛应用于表面结构分析、晶体质量检测等领域。
🌟 系统特点：
反射视角光学设计（Reverse-View）
100% UHV兼容结构：无玻璃纤维、无聚合物包覆导线
微型电子枪直径仅 1.59 cm
103° 有效视场角度
能量分辨率 0.5%
可伸缩光学组件（标准 2 英寸，可定制至 4 英寸）
安装法兰带有集成视窗与电连接端口
低噪音、高性能的 AES 电子学系统，集成锁相放大器
MCP 版本可用于皮安/纳安级别电流
可选附件：低轮廓快门、CCD 摄像头及图像软件、6 英寸与 8 英寸法兰版本
