J chadwick 8400光学深度千分尺

通过减少“维修还是更换”决策过程中的不确定性，可以识别哪些零部件能够安全维修并重新投入使用，从而节约资源，避免不必要的更换成本。

该光学千分尺既可以手持使用，也可以安装在实验室支架上。适用于平面和曲面，以及各种材料和表面处理，包括复合材料和透明材料。

可用于测量以下表面缺陷的深度：

• 划痕
• 崩缺、缺口
• 毛刺
• 点蚀、麻点
• 振纹
• 划线、刻线
• 雕刻痕迹
• 标记
• 其他表面缺陷

工作原理

光学千分尺通过对焦来测量深度，即测量两个点之间的垂直距离。

首先确定测量的起始参考点，即“零点”。将仪器对焦在损伤区域旁边的表面 A 上。

对焦清晰后，按下按钮，将数字显示归零。

然后，将焦点调整到损伤区域的最底部，即表面 B，并从数字显示屏上读取损伤深度。

技术参数

精度：
±0.001 英寸（±0.02 毫米）

测量范围：

• 100～200 倍放大倍率：最大 0.2500 英寸（约 6.35 毫米）
• 40～80 倍放大倍率：最大 1.2500 英寸（约 31.75 毫米）

视场：
直径 0.04～0.18 英寸（约 1.02～4.57 毫米）