勘探和地基调查经常伴随着钻探。目的是研究钻孔材料的化学成分。然而，在实验室中对钻井岩屑进行分析既耗时又昂贵。
使用基于X射线荧光分析的设备INDIANA 125提供了已经与钻探过程平行的元素分析。
送入地面的碎屑通过筛网（如果需要）脱水，然后通过螺旋输送机送入仪器。
分析器INDIANA 125确定元素组成并将测量值与钻头的深度相关联。
因此，在钻探过程中生成钻孔的深度剖面，该深度剖面存储在数据库中。如果该系统连接到GPS设备，则该配置文件可用于生成调查区域的地图。
测量原理
该装置由一个X射线管和一个能量色散传感器组成。由X射线管发射的辐射激发由传感器检测到的块状材料中的元件特性辐射。传感器测量能量（指示大块材料中的元素）和强度（与大块材料中元素的百分比相关）。评估软件BOSTON根据这些信号计算材料成分。
工业计算机可以使用IP、OPC、MODBUS、串行链路甚至0（4）等标准接口连接到控制室。。20毫安。由于碎屑被连续输送到传感器，螺旋输送器输送与钻头深度成比例的材料。因此，生成的轮廓是真正的深度相关。剖面图根据深度显示感兴趣元素的存在。
获取的配置文件存储在SQL数据库中。提供了将配置文件导出到其他程序的功能。因此，可以很容易地生成包含相关档案信息的EXCEL兼容文件。可根据要求提供其他数据格式。
