我们的布鲁斯特角样品架允许使用透射光谱法在不同角度测量薄膜。这些测量用于从产生的干涉条纹中提取薄膜厚度和折射率数据。
布儒斯特角样品架还消除了通常遮蔽弱吸收带的干涉条纹。当与偏振器一起使用且位于布鲁斯特角时，p-偏振光通过反射最小的表面传输。
特征
以布鲁斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜。
精确设置和读取入射角的刻度盘。
可选安装在紫外可见光谱仪上。
与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和Glan Taylor偏振器兼容。
包括
布鲁斯特角样品架。
一个样品支架。
滑板安装。
