Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G允许使用透射光谱在不同角度测量薄膜。这种测量用于从所得干涉条纹中提取膜厚度和折射率数据。
Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G还消除了干涉条纹，这些干涉条纹通常会遮挡弱吸收带。当与偏振器一起使用并以布鲁斯特角定位时，p偏振光以最小的反射透过表面。
Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G主要特点：
以布儒斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜。
准确设置和读取入射角的刻度盘。
可选支架可用于UV-VIS光谱仪。
与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和格兰泰勒偏振器兼容。
Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G包括：
布鲁斯特角样品架。
一个样品支架。
滑动板支座。
