BTS2048-UV-S 使用这款高质量的紧凑型光谱辐射计测量紫外线
- 与双单色仪相当的高杂散光减少
- 超快速接口和电子快门
- 高光学分辨率
- 非常适合各种测量任务(紫外LED、氘灯、钨灯到太阳辐射)
- 杂散光大幅减少有助于将精确校准转化为精确测量
测定量：光谱辐照度(W/(m·nm))、辐照度(W/m)、峰值波长、中心波长、质心波长、红斑。可选积分球:另外光谱辐射功率(W/nm)和辐射功率(W)
输入光学器件:扩散器，余弦校正视野(f2 ≤ 3 %)
滤光轮:8个位置(打开、关闭、滤光器)。用于远程暗电流测量和减少杂散光。
BiTec:二极管和阵列的并行测量是可能的，从而通过二极管对阵列进行线性校正，并通过a*(s)对二极管的光谱失配进行在线校正z(λ))分别为F*(sz(λ)).
校准不确定度：光谱辐照度
光谱辐照度响应度(200 - 430)纳米 光谱探测器：
积分时间：2微秒- 60微秒*1
光谱范围：(190 – 430)纳米
光学带宽：0.8纳米
像素分辨率：约0.13纳米/像素
像素数量：2048
芯片：高灵敏度背面减薄CCD芯片，一级冷却(1TEC)
物理输出核心:16位(25 ns指令周期时间)
峰值波长:0.05纳米
带通校正:支持数学在线带通校正
线性:完全线性化芯片> 99.6%
杂散光:越界方法< 1E-4 *3, 带通法< 1E-5 *3
基线噪声 :5 cts *4
信噪比(Signal Noise Ratio): 5000 *5
动态量程: 大于9级
光谱辐照度响应范围:(3E-5 – 3E4) W/(m²nm) @325nm *6*7
典型测量时间:来自(250 – 400)纳米的卤素灯的W/m
测量模式:标准测量模式:200纳米至430纳米
超范围杂散光校正测量模式(OoR SLC): 200纳米至430纳米
太阳测量用杂散光校正带通模式(太阳BP SLC公司):285纳米至420纳米
通用杂散光校正带通测量模式(BP SLC): 245纳米至420纳米
