弧焊过程中紫外线辐射的测量和评估BTS2048-UV-S

弧焊过程中紫外线辐射的测量和评估BTS2048-UV-S

由于产生高水平的紫外线辐射,焊接过程中必须使用个人防护设备(PPE)。评估焊接过程中与紫外线暴露相关的危害,需要测量光谱辐照度,并根据生物有效性进行加权。焊接电弧内动态光学过程的测量需要专业设备以及使用和评估测量结果的专业知识。IFA、Sankt Augustin和多特蒙德联邦职业安全与健康研究所已经就焊接过程中紫外线辐射暴露的测量和评估[1]编制了综合研究报告,包括动态方面的考虑[2]。这些报告使用了Gigahertz Optik GmbH提供的各种专业测量设备,包括紫外分光辐射计[3]、紫外辐射计[4][5]和个人剂量计[6][7]。

使用这种高质量的紧凑型光谱辐射计在紫外线下进行测量

与双单色仪相比,杂散光减少率高

超高速接口和电子快门

高光学分辨率

适用于各种测量任务(紫外线LED、氘灯、钨灯对太阳辐射)

高杂散光减少有助于将精确校准转换为精确测量

用于高质量紫外线测量的BTS2048-UV-S快速BiTec传感器光谱辐射计

BTS2048-UV-S是一款高质量的光谱辐射计,其紧凑的设计和精密的光学、电子和机械接口使其成为复杂工业和科学测量任务集成的理想选择。

用于高端光线测量的BiTec传感器

这种特殊的光谱辐射计的一个突出特点是其BiTec传感器(见关于BiTec传感器的技术文章)。这结合了光电二极管和后减薄CCD二极管阵列的特殊特性。通过对来自两个传感器的测量信号进行双边校正,BiTec传感器确保在大动态范围内获得精确的辐射和光谱辐射测量值。

高质量后减薄CCD探测器

由2048个像素组成的二极管阵列具有190 nm到430 nm之间的可利用光谱响应范围。它的光学带宽为0.7nm,像素分辨率为0.13nm/像素。由于采用了后减薄技术,与传统的前照CCD芯片相比,这种CCD芯片的灵敏度大大提高。此外,CCD为单级冷却(1TEC)。

闪光光谱辐射计

它的另一个特点是,背面减薄的CCD探测器配备了电子快门。这使得在闪光灯下进行测量成为可能。BTS2048-UV-s具有多样的触发功能、2µs到60000ms的集成时间、强大的微处理器和非常快速的LAN接口(完整的数据文件为7ms),适合广泛的应用。

精密光谱辐射测量(低直射光)

为了更好地利用CCD传感器的动态范围,并克服大多数阵列光谱仪在紫外线范围内的问题,在光路中有一个远程控制的滤光片轮(开放式、封闭式、光学滤光片)。该滤光片与智能测量和杂散光校正程序相结合,可实现BTS2048-UV-S的高质量测量。结果可与双单色仪结果进行比较(见图)。然而,测量时间要少得多。由于BTS2048-UV-S安装了一个带8个滤光位置的滤光轮,因此与BTS2048-UV相比,还安装了一个减少杂散光的智能测量程序。另请参阅我们关于光谱辐射计杂散光减少的技术文章。

用扩散窗代替导光板

至于输入光学元件,BTS2048-UV-S有一个带有余弦校正视场的集成扩散器窗口。未使用光导的事实提高了灵敏度和校准稳定性。f2将余弦校正视场调整到小于3%,使BTS2048-UV-S可用于绝对辐射测量中的直接测量

辐照度(W/m²)

光谱辐照度(W/(m²nm))

辐射强度(W/sr)

光谱辐射强度(W/sr nm)

辐射功率测量

在积分球方面,BTS2048-UV-S是测量辐射功率和光谱辐射功率的最佳测光仪。可以将带前缀的扩散器窗口放置在球体中,以便创建不间断的半球视野。千兆赫兹Optik生产各种积分球以及必要的附件,如校准标准。

                                      可直接插在积分球上测量

超高速接口

BTS2048-UV-S通过USB 2.0或以太网接口进行控制。就通信速度而言,以太网端口优于USB2。0接口。此外,数据准备在BTS2048-UV-S中进行,以优化数据传输速度。为此,集成了一个独立的高性能微处理器。

具有灵活桌面结构的用户软件

BTS2048-UV-S交付内容中包括S-BTS2048用户软件。它必须提供的一个特点是灵活的桌面,用户可以单独配置。这意味着用户可以从中选择图形和数字显示窗口:

十进制或科学表示的可自由定义的数字显示。缩放功能。

用于辐射测量、光谱测量和其他测量的数字显示区域。

所选测量参数的测量协议。

CIE 1931色度图。缩放功能。谱缩放功能。数据记录器。缩放功能。等

                                                            软件

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