Crytur 电子显微镜用单晶检测装置

Detection units for electron microscopy

用于电子显微镜的单晶检测装置，将单晶闪烁体的闪烁特性与光导装置相结合。

Crytur 电子显微镜用单晶检测装置特点

Crytur利用自主研发的独特闪烁材料，生产并提供多种检测与成像设备。

• 发光效率非常高
• 无限的使用寿命
• OEM生产、检测与认证服务

显微镜检测设备的生产范围包括用于扫描电子显微镜和透射电子显微镜的检测装置。

Crytur与客户在产品的设计与开发过程中紧密合作，同时也能根据客户的特殊需求量身定制探测器设计方案。

Crytur还提供了用于SEM设备升级的解决方案。

光导纤维

Crytur公司为不同的探测器和检测装置生产多种类型的导光板。根据所使用的闪烁材料及应用场景的不同，会采用相应的原材料进行制造。

• 具有优异紫外线透过率的PMMA材料
• 石英玻璃
• 蓝宝石

设计选项

SEM探测器
二次电子检测	平面型闪烁体 圆锥形结构（能产生更强的光输出） <#>6#>采用光纤连接方式（实现微型化设计） <#>8#>
背散射电子检测技术	环形结构 分段设计 镜片内置式设计（最小光圈可达0.3毫米）
CL（阴极发光）	这种通用型石英光导装置可以在任何工作距离下正常使用 抛物面形状
透射电子显微镜检测器
STEM探测器	ADF HADF BF
透射电子显微镜检测器	基于FOP上制造的薄单晶屏的成像系统 光子计数探测器

闪烁体涂层选项

检测用闪烁体表面经过特殊处理，这样可以防止电荷积累、提高光输出效率，同时还能保护闪烁体表面不受损伤。

导电涂层

• Al（用于光密涂层、检测表面）
• ITO材料（检测用表面材料，具有极高的化学和机械耐受性）
• CRYTUR低能耗涂层（检测起始电压为500伏特）

高反射率 / 抗反射功能 / 防护作用

• 高反射率铝材
• ITO（内全反射现象、机械阻力）
• Au（阻隔层）
• MgF2（抗反射涂层）