AHS折叠双锥天线SAS-544F

AHS折叠双锥天线SAS-544F

这种折叠双锥天线具有同轴绕线巴伦,可以处理高场射频能量。

特征

20 MHz至300 MHz

单独校准

FCC、MIL-STD、VDE和TEMPEST测试

坚固的结构

产品详细信息

SAS-544F折叠双锥天线是第一款用于便携式合规测试应用的EMC天线。这种双锥天线采用同轴绕线巴伦设计,以提高功率能力,并用于发射和接收高电磁射频场。为了快速部署,以及小包装的移动性,折叠双锥元件可以像雨伞一样闭合,允许将天线包含在可选的运输存储箱中。无论是在屏蔽外壳中测试,还是在室外测试,a.H.系统双锥天线的坚固结构将确保长寿命和可靠的性能。

包括的零件:

SAS-544F天线巴伦

2个可拆卸折叠元件

ABC-B,带1/4-20螺纹的巴伦卡箍

天线校准手册

*包括1米、3米和10米水平极性的校准数据和证书

Frequency Range:20 MHz – 300 MHz
Antenna Factor:6 to 21 dB/m
Gain:-23 to 2.8 dBi
Maximum Continuous Power:300 Watts
Max Radiated Field:20 V/m
Pattern Type:omni-directional
Impedance:50 ohm
Connector:N-Type, female
Mounting Base:¼ – 20 Thread, female

如今,嵌入式数字处理芯片几乎无处不在:手机、厨房用具、制造设备、核磁共振成像(MRI)系统,甚至是贺卡。加上物联网,范围就会爆炸。随着数字技术的广泛使用,Wi-Fi、蓝牙、蜂窝和其他形式的通信(包括更高频率的传输)得到了巨大的扩展。

其结果是,无论是在小型无线传感器中还是在豪华轿车中,技术的使用不断升级,可能会产生不必要的干扰。无论是工程团队、设计公司、家电制造商、电信公司、医疗成像供应商还是其他组织,它们都需要进行干扰测试,以符合法规要求。

干扰测试指使用屏蔽外壳。这些隔离装置在数据安全和防止对关键测量和处理设备的干扰方面也发挥着重要作用。

正如干扰测试需要射频外壳一样,隔离系统也需要自己的测试。本文回顾了测试射频外壳时的一些问题和注意事项。特别重要的是需要评估屏蔽效能并制定外壳符合性测试计划。

屏蔽外壳的作用

屏蔽外壳是法拉第笼,或连接到地面的金属结构。它们都可以防止射频能量进入外壳和泄漏。屏蔽外壳的类型包括MRI室、测试实验室的屏蔽效能测试外壳(HEMP或Tempest应用)、无线通信行业的屏蔽外壳或机柜,以及高压行业的大型屏蔽外壳。外壳的尺寸从小盒子到大面积不等,可以容纳像飞机一样大的物体。

小型外壳可能采用全金属结构。更大的外壳有更复杂的要求。他们坐在地板上,在围墙顶部和建筑物天花板之间有一个房间。由于外壳的尺寸,固体金属过于昂贵和笨重。相反,它们通常采用金属网结构。只要网格中的孔相对于频率波长来说很小,它们就可以有效地阻断信号。即使一些射频能量确实穿透了外壳壁,它也应该衰减得很厉害,以至于任何残留量都可以忽略不计。

屏蔽外壳在两个主要方面发挥作用。更大的是合规性测试。美国、欧盟和其他地方的监管机构通过IEEE-299或EN 50147-1等标准对射频信号实施限制。在没有强制性限制的情况下,所有方式的设备都可能发出任何数量的电磁辐射,并干扰医疗设备、通信系统等的正常运行。

法规遵从性要求测量设备发出的信号,并与相关标准进行比较。然而,测试过程面临挑战。大多数环境都充满了来自广播电台、电视、蜂窝、Wi-Fi、卫星传输、太阳活动和许多其他来源的射频能量。屏蔽外壳将测试过程与外部信号干扰隔离开来,使工程师能够更准确地测量设备信号电平和衰减,以与法规进行比较。

另一个需要屏蔽外壳的一般区域是与外部影响的电磁隔离。原因可能是安全和防止信息丢失,或将电子过程与可能的意外干扰隔离开来。

屏蔽效能

屏蔽外壳的隔离效果仅与它们防止射频场向内或向外扩展超出其壁边界的能力一样好。工程师、设计师和科学家不能想当然。

没有一个外壳是完美的。根据牛津大学2014年的研究,用于网状法拉第笼的传统数学模型存在缺陷,并夸大了笼内射频场消除的程度。

外壳结构不可避免的方面可能成为射频场破坏的来源。进入外壳的门在其边缘有铰链和空间来打开和关闭,这在屏蔽方面造成了弱点。边缘和铰链的铜覆盖物提供额外的屏蔽。随着时间的推移,尤其是在可能经历大量振动的制造设施中,覆盖物可能会松动。

屏蔽外壳通常包含表面不规则性,例如管道或导管穿过或火警。电缆互连允许笼子内的电缆连接到外面的电缆,可能会因其他连接器而进行修改,从而损坏屏蔽完整性。通风是另一个例子,在屏蔽效能方面通常存在问题。

 


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