泽德，齐格勒电子设备公司，紫外线解决方案,数字紫外线C传感器
现场重新校准
在大多数紫外线系统中，监测紫外线-C辐照度对于确保水处理系统的消毒或确保对光化学过程的影响至关重要。用于这些测量的紫外探头暴露在高能紫外辐射下，这可能会导致老化效应。因此，需要定期测试和重新校准以满足不同的法规要求。规范M5873-1建议认证有效期和重新校准间隔为一年。
如果由原始制造商进行重新校准，循环重新校准需要相当大的努力。
第二代ZED数字UVC传感器允许工厂制造商甚至操作员通过简单的过程进行重新校准允许工厂制造商甚至操作员通过简单的过程进行重新校准
- ZED智能仪表与经过认证的ZED参考传感器一起使用，可引导用户完成自动化过程，只需几分钟。
- 完整的重新校准历史存储在每个传感器内部；设置密码以确保只有授权人员才能进行重新校准。重新校准选项适用于所有数字UVC传感器，包括具有模拟输出的ZED数字UV传感器。
现场重新校准能够节省重新校准周期的时间和成本。该功能的预期用途是由设备制造商在其自己的测试台或校准箱中进行重新校准。由客户服务或客户自己对位置进行重新校准是另一种应用可能性。
现场重新校准功能是可选功能；每个UVC传感器都需要一个客户专用密钥。该密钥将在现场重新校准期间输入ZED智能仪表。
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