50 mA 至 10 A 源测量单元系列可在该电流范围内实现高精度电流输出,并同步进行电压测量,从而在低功率和高功率应用中均能准确表征被测器件性能。
该系列专为脉冲测试而设计,支持微秒级瞬态响应和可控占空比运行,可在大电流测试过程中有效降低器件自发热效应对测试结果的影响。
其低噪声数字化采集系统能够检测毫伏级电压变化和微安级电流波动,确保半导体器件及功率器件的 I-V(电流-电压)特性测试具有优异的重复性和测量精度。

50 mA 至 10 A 源测量单元系列可在该电流范围内实现高精度电流输出,并同步进行电压测量,从而在低功率和高功率应用中均能准确表征被测器件性能。
该系列专为脉冲测试而设计,支持微秒级瞬态响应和可控占空比运行,可在大电流测试过程中有效降低器件自发热效应对测试结果的影响。
其低噪声数字化采集系统能够检测毫伏级电压变化和微安级电流波动,确保半导体器件及功率器件的 I-V(电流-电压)特性测试具有优异的重复性和测量精度。