Vektrex DCP LED测试系统LM-92-22差分连续脉冲法
DCP LED 测试系统（DCP LED Test Station）
DCP LED 测试系统通过集成多种功能模块，简化了对 UV LED 的特性表征与测量，包括：
该系统采用 LM-92-22 标准中定义的最精确测量方法——差分连续脉冲法（Differential Continuous Pulse, DCP） 进行测试。同时，也支持 LM-85 标准中定义的常规测量方法。
用于 UV LED 特性表征的一站式解决方案（Turnkey Solution）
该系统提供完整的 UV LED 高精度测试方案，主要特点包括：
- 采用 IES LM-92 标准中的 DCP（差分连续脉冲）方法，以及正在进行中的 CIE TC2-91 项目，用于高精度 UV LED 测量
- 集成 Vektrex SMU，实现高精度电流输出和短脉冲能力
- DCP 方法可在应用软件中实现，或通过 Python 工具实现（配合 SMU 和光谱辐射计使用）
- 配备 150 mm 无荧光积分球 和低杂散光光谱辐射计（采用 ODM 涂层）
- 可选校准标准，支持用户对系统进行重新校准
Vektrex DCP LED测试系统LM-92-22差分连续脉冲法
什么是 LM-92-22？
LM-92-22 是针对峰值波长在 200–400 nm 的 UV LED 的测试标准。
该标准由以下机构联合制定：
- 照明工程学会（IES）
- 国际紫外协会（IUVA）
并与 NIST 和 Vektrex 合作完成。
LM-92-22 标准主要内容包括：
- 如何测量 UV LED 的光学和电学性能参数
- 如何处理荧光（fluorescence）和磷光（phosphorescence）影响
- 如何测试瞬态电压效应（transient voltage effect）
- 如何使用 DCP 等技术来克服热、光学和电学方面的测量挑战
关于 DCP 方法
差分连续脉冲（DCP）模式是一种在 LM-85 标准中定义的测量重复性方法。
特点：
- 推荐用于所有 UV LED 测试
- 可获得最准确的光学测量结果
- 有效降低热效应、电效应对测试的干扰
推荐用于 UV LED 测量的源测量单元（SMU）
对于使用 LM-92-22 差分连续脉冲（DCP）测量方法的 UV LED 测试，推荐使用 Vektrex 的 SMU。
特点与理由：
- 短脉冲能力：符合 DCP 方法对脉冲特性的要求
- 操作优化：便于快速实现测量
- 兼容性强：任何 Vektrex 脉冲 SMU 或高电流 SMU 型号均可与 DCP LED 测试站配合使用
简而言之，Vektrex SMU 是 UV LED 精密光电测量的理想电流源。
