SpikeSafe 源测量单元（SMU）
什么是源测量单元（SMU）？
源测量单元（Source Measure Unit, SMU）是一种高精度电子仪器，将电源和测量系统集成在同一设备中。它可以在向被测器件提供电流的同时，精确测量其产生的电学响应。
SMU 的功能广泛应用于半导体器件测试、材料研究以及元件特性分析。它可以让用户以最少的搭建复杂度完成诸如 I-V（电流-电压）特性分析、漏电测试以及器件可靠性分析等任务。
使用 Vektrex SMU 仪器，可以通过精确和高准确度的测量来提升测试质量，实现更高的重复性，并降低测试成本。
精确且可重复的测量
SpikeSafe 源测量单元针对高精度和高重复性的测量进行了优化，适用于全球实验室及生产环境。
该技术的开发公司 Vektrex 还推出了 Control Panel 软件应用程序，为 SMU 的操作提供了用户友好的图形界面。
哪种源测量单元适合我？
Vektrex 的源测量仪器支持多种产品与应用需求，提供从低电流到高电流的多种型号选择。
可选型号：50 mA、500 mA、4 A、5 A、10 A
低电流型号（50 mA 和 500 mA）非常适用于高灵敏度器件研究（例如微型 LED）。
中等电流（4 A 和 5 A）以及高电流（10 A）型号则适用于更高功率的电子器件以及工业测试应用。
特点
- 支持 0–100% 占空比
- 支持直流（DC）、长脉冲和短脉冲模式
- 允许电压最高达 400 V
- 可选双数字化仪（用于光电二极管应用）
- Vektrex Control Panel 软件提供数据可视化功能
- 快速指令处理，适用于生产测试环境
规格说明
可选型号：10 A、20 A、40 A、60 A、80 A
Vektrex 高电流源测量单元（10 A 至 80 A）专为高要求的功率电子、材料研究以及工业器件测试设计，可在高负载条件下保持精确控制。
特点
- 可通过简单线缆将多台高电流型号并联，以实现更高电流输出
- 连续功率转换，支持 0–100% 占空比
- 支持所有操作模式，包括直流（DC/CW）和脉冲（Pulse/QCW）
- 真差分数字化仪（True differential digitizer）
- 可选第二数字化仪，用于光电二极管应用
首选 SMU
SpikeSafe SMU 的一个突出特点是其能够实现低至 1 微秒（1 µs）的最小脉冲宽度。这一能力对于降低高敏感半导体器件的结温至关重要，例如垂直腔面发射激光器（VCSEL）、激光二极管以及其他半导体元件。
连续功率转换带来更高电压能力
Vektrex 专有的连续功率转换技术使单台 SpikeSafe SMU 能够在无占空比限制的情况下，为多种器件提供持续输出功率。
这一特性对高功率应用尤为有利，因为 SpikeSafe SMU 可在显著高于标准脉冲 SMU 通常 10V 至 60V 限制的电压下运行。
这种灵活性使 SpikeSafe SMU 同时适用于低功率和高功率应用，为研究人员和工程师提供强大的精密测试与器件表征工具。
通过短脉冲模式降低热效应影响
器件结温升高会导致测量失真，例如 L-I 曲线下降（droop）以及 I-V 曲线漂移。
借助 Vektrex 的高速脉冲 SMU，用户可以在热量积累之前完成测量，从而获得真实的器件特性。
琥珀色 LED 的 L-I（光强-电流）曲线图显示了在测量过程中结温（TJ）升高所产生的影响。
测试你曾经“看不见”的东西
随着越来越多高功率密度的 LED 和激光器件进入市场，传统源测量单元（SMU）在测试能力上已经无法满足当前工程与生产测试需求之间的差距。功率不足、脉冲能力有限以及测量能力不够，都限制了上一代 SMU 的应用。
SpikeSafe® SMU 精密脉冲源测量单元通过提供从数百秒级到 1 微秒（1 µs）的精确脉冲能力，并具备持续输出功率，从而弥补了这一差距。SpikeSafe SMU 将 LED 和激光测试所需的速度与功率，与集成的高速数字化测量功能相结合。
现在，你可以准确测试以前无法测试的器件，并“看见”过去由于功率限制而无法观察到的特性——同时具有极高的重复性。
Vektrex PSMU 带来“极其稳定”的测量
Vektrex 脉冲源测量单元（PSMU）提供实现更高精度、更高效率以及更高重复性的测量所需的功率支持。
亚微秒到低微秒级的上升/下降时间、可编程负载调节以及在线脉冲宽度修正的组合，使被测器件受到的热效应更低且加热更加均匀。
其结果是前所未有的测量稳定性——一位 beta 测试用户将其形容为“极其稳定（crazy stable）”的测量表现。
一次测量即可完成（One and done measurements）。生产测试系统通过升级 SpikeSafe SMU 后，重复性提升了 10 倍，从而无需再进行数据平均处理。
由于具备高测量稳定性，不再需要进行多次测量或数据平均处理。高稳定性还能消除误报（false positives）和漏报（false negatives），从而提升良率并降低测试成本。
真差分数字化仪（True Differential Digitizer）
Vektrex 的 SMU 采用先进的真差分数字化技术，可生成符合测量标准的时间对齐测量数据。与其他测量技术相比，其共模噪声被显著降低。
这意味着该 SMU 能够测量非常微小的正向压降（VF）变化，例如高压 LED 中 200 µV 的微小偏移。
该 SMU 数字化仪持续进行采样，可提供单次或多次箱式平均（boxcar-averaged）测量结果。这种方式无需外部信号处理即可直接获得测量数据。
Vektrex SMU 新闻
使用 Vektrex SMU 实现可重复测量
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光谱仪积分时间（Spectrometer Int Time）
测量重复性（MEASUREMENT REPEATABILITY）
高功率 LED 的 LM-85 光测量方法
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源测量单元（SOURCE MEASURE UNIT）
LED 与激光二极管的精确光学测量
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UV LED 可控硅效应（Thyristor Effect）
通过“力/感测选择开关”获得测试灵活性
SpikeSafe SMU 的Force Sense 选择开关提供集成的“连接/断开（Connect/Disconnect）”以及“A/B 切换”功能。
连接/断开功能
该功能对于高速生产环境至关重要，是一种真正的隔离式开关，可快速切断对被测器件的供电，从而减少控制步骤并加快测试速度。
A/B 切换功能
A/B 切换允许辅助仪器与 SMU 共用负载接线。
这些辅助仪器可用于低电流及反向电压测量。
由于目前存在多种可用且已在使用中的辅助仪器，A/B 切换功能使这些设备能够与 Vektrex SMU 并联使用。
例如：
- 使用 Vektrex SMU 进行高电流、更高输出功率、更快脉冲以及更高精度测量
- 使用辅助仪器进行反向电压和极低电流测量
易用的控制面板软件应用
Vektrex 提供易用的 Control Panel 软件应用，可对 SMU 以及外部源测量单元、高速采样电压表和光谱仪进行一体化控制。
Control Panel 的直观测试工具和图形化显示支持常见的光电测试，例如：
- I-L 扫描（电流-光强扫描）
- 斜率效率测试
- 结温测量
