TME Solution- C Chamber Test腔体泄漏检测

压力或者真空衰减

非破坏性的密封检测

多应用程序

客户定制或者标准腔体

参数：

尺寸：1/2”W, 16”D, 10”H

电源：230V，50-60HZ

操作存储环境：5-40℃，湿度＜80%，非导电环境

控制：按钮，触摸屏，键盘锁，开关

测试通道：最高4通道

测试模式：压力或者真空衰减

存储：最高5000个测试结果

通讯接口：RS232

时间范围：1-1000秒