美国TM electronics公司TME Solution- C Chamber Test腔体泄漏检测

TME Solution- C Chamber Test腔体泄漏检测

压力或者真空衰减

非破坏性的密封检测

多应用程序

客户定制或者标准腔体

参数:

尺寸:1/2”W, 16”D, 10”H

电源:230V,50-60HZ

操作存储环境:5-40℃,湿度<80%,非导电环境

控制:按钮,触摸屏,键盘锁,开关

测试通道:最高4通道

测试模式:压力或者真空衰减

存储:最高5000个测试结果

通讯接口:RS232

时间范围:1-1000秒


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