美国SUN-TEC,硬度测试设备,显微硬度计,CM MICRO （0.001-2kg）,内置的重量拨号系统可轻松地从负载到负载之间变化,锐利清晰的光学器件提供准确的压痕读数
CM系列显微硬度计
随着各种新材料的推出，对维氏和努氏显微硬度测试的需求大大增加。
CM 系列显微硬度计采用先进技术，可获得极其准确的测试结果。
为了获得最佳的灵活性，将 CM 测试仪与我们可用的 ARS 软件相结合，形成一个完整的自动化测试系统。
特殊功能
- 内置的重量拨号系统可轻松地从负载到负载之间变化。
- 带 LCD 触摸屏显示器的先进微型计算机 （CM-802/CM-802AT）
- 自动化测试序列可轻松执行免提装载作
- 维氏、努氏、布氏和断裂韧性 （Kc） 测试 （CM-802/CM-802AT）
- 锐利清晰的光学器件提供准确的压痕读数
- 可选的双压头转塔可在 CM-802 上配备多达 4 个物镜
，在 CM-102 和 CM-402 上最多配备 3 个物镜 - 可选配带 CM-802 屏幕显示的数字千分尺头 （CM-802）
- USB输出连接（CM-802系列）
- 内置 LED 表面灯
- 符合 ASTM 和 ISO 17025 标准的公差
