美国 SRS -Stanford Research Systems 光学斩波器 SR540 — 单光束和双光束斩波器

美国 SRS -Stanford Research Systems 光学斩波器 SR540 — 单光束和双光束斩波器

  • 4 Hz 至 3.7 kHz 斩波频率
  • 低相位抖动
  • 单光束和双光束实验
  • 和差参考输出
  • 螺栓夹或杆安装

概述
SR540 斩波器将满足您的所有光学斩波要求——从简单的测量到双光束和互调实验。SR540 具有 4 位频率显示、前面板频率控制、模拟电压频率控制和两个具有可选操作模式的参考输出。

SR540 光学斩波器

SR540 斩波器将满足您的所有光学斩波要求——从简单的测量到双光束和互调实验。SR540 具有 4 位频率显示、前面板频率控制、模拟电压频率控制和两个具有可选操作模式的参考输出。提供两个阳极氧化铝叶片:一个 5/6 槽叶片用于高达 400 Hz 的频率,一个 25/30 槽叶片用于高达 3.7 kHz 的频率。为对应于每行插槽的频率以及和频和差频提供参考输出。

光学斩波器应用

单光束实验

在此应用中,单个光束由外排插槽斩波,来自右侧 BNC 的参考输出用于将锁相放大器锁定到斩波频率。也可以使用内行插槽,在这种情况下,左侧的 BNC 将是参考输出。在任何一种情况下,REFERENCE MODE 开关都处于“向上”位置。

双光束实验

在这种安排中,来自单个源的输出被两排斩波器插槽以两个不同的频率进行分割和斩波。一束光穿过实验,而另一束用作参考束。光束被重新组合并发送到同一个探测器。两个锁相装置用于检测ƒ,对应于实验信号,以及ƒ,对应于参考梁。如果在实验组中检测到的信号与在对照组中检测到的信号成比,则由于源强度和检测器效率变化而产生的影响将被消除。

SR540 规格

常规

斩波频率4 Hz 至 400 Hz(5/6 插槽刀片)
400 Hz 至 3.7 kHz(25/30 插槽刀片)
频率稳定性250 ppm/°C(典型值)
频率漂移<2 %, 100 Hz < f < 3700 Hz
相位抖动 (rms)0.2°(50 Hz 至 400 Hz)
0.5°(400 Hz 至 3.7 kHz)
频率显示4 位 1 Hz 分辨率和精度
频率控制具有 3 个量程的 10 圈电位器:
4 Hz 至 40 Hz
、40 Hz 至 400 Hz
、400 Hz 至 3.7 kHz
输入控制电压0 至 10 VDC,用于 0 至 100% 满量程。控制电压覆盖频率拨盘。
参考模式ƒ, ƒ, 5 × ƒ, ƒ+ ƒ, ƒ– ƒ
尺寸控制器:7.7 英寸 × 1.8 英寸 × 5.1 英寸 (WHL)
斩波头:2.8 英寸 × 2.1 英寸 × 1.0 英寸 (WHL)
叶片直径4.04 英寸 ±0.002英寸
电缆长度6 英尺
权力12 瓦,100/120/220/240 伏交流电,50/60 赫兹
保证材料和工艺缺陷保修一年零件和人工,电机保修 90 天。

Related posts