UV-470 OEM 光谱仪
Spectrum Scientific 的 UV-470 光谱仪集成了自主研发的像差校正凹面全息光栅。该光栅经过特殊闪耀处理，可在紫外波段实现峰值性能表现。本光谱仪的工作光谱范围为 190-850 纳米。
采用单一全息光学元件设计，有效降低杂散光（340纳米处＜0.07%），从而显著提升信噪比。为满足 OEM 应用需求，您可根据实际应用选择狭缝尺寸，或订购不含驱动板的基础版本。
技术规格表
| 参数项目 | 技术规格 |
|---|---|
| 光栅类型 | 470线/毫米像差校正凹面光栅 |
| 焦距 | 70毫米 |
| 光谱范围 | 190-850纳米 |
| 分辨率 | 1.4纳米@190-850纳米 |
| F值 | 2.0 |
| 信噪比 | 1200:1 |
| 杂散光指标 | <0.07%@340纳米 <0.01%@435纳米 |
| 色散率 | 21.3纳米/毫米 |
| 狭缝尺寸 | 15微米(标准) 可选25/50/100微米 |
| 动态范围 | 2000:1 |
| 积分时间 | 0.1毫秒-6.5秒 |
| 像素尺寸 | 8微米×200微米 |
| 像素阱深 | 10万电子 |
| 模数转换精度 | 16位 |
| 光纤接口 | SMA 905, 0.22数值孔径 |
| 数据接口 | USB 2.0 |
| 电源要求 | USB供电300毫安 |
| 操作系统 | Windows XP/Windows 7 |
| 外形尺寸 | 96.5×72.5×63.5毫米 |
| 重量 | 1.09磅(0.5千克) |
| 工作温度 | 0℃至55℃ |
