Harrick/ Specac VariGATR™ 变角掠射附件

VariGATR™ 掠角 ATR 附件是分析半导体和金属衬底上单层层的革命性方法。VariGATR™ 是可变角度的，因此可以优化入射角，以获得这些类型样品的最高灵敏度。其专门设计的压力涂抹器经过优化，可在样品和 Ge ATR 晶体之间提供良好的接触。VariGATR™ 非常适合快速、可重复的测量，并且相对于掠射角方法，灵敏度至少提高了一个数量级。此外，它还提供了一个易于使用、完全预对准的水平采样附件，非常方便。

特征

• 方便的水平采样表面。
• 内置压力涂抹器，带滑动离合器，可实现可重复的压力应用。
• 从 60º 到 65º 的连续可变角度允许优化以获得最大灵敏度。
• 消隙机构允许准确、可重复的角度选择。
• 镶嵌的 Ge ATR 晶体。
• 可容纳直径达 8 英寸的样品，可对直径达 6 英寸的圆盘进行中心采样。
• PermaPurge™ 用于快速清洗系统。
• 选项包括：
  • 用于增强光谱对比度和方向研究的线栅偏振器。包括滑板安装。
  • 带数字读数的力传感器，用于精确测量为实现 ATR 晶体与样品之间的接触而施加的力。
  • 提供低扭矩滑动离合器。
  • 用于大样品的角度刻度观察助手。

包括

• Ge 半球形 ATR 晶体。
• 内置压力施加器，专为容纳大样品而设计。
• 指定光谱仪的安装硬件。