德国SIOS LM 20/50高线性度探头 用于高精度触觉厚度测量和校准

高线性度探头 LM 20/50

光纤耦合,高度线性探头,用于高精度触觉厚度测量和校准

用于触觉长度/厚度测量的激光干涉精密探头

线性度 ≤ ±2 nm

测量力 固定 可调 0.5 …1.5 牛

在整个测量范围内具有高线性度

在整个测量范围内保持恒定的探头测量力

Windows 和 Linux 下 OEM 软件的开放接口

LM 系列激光干涉探头是精密线性编码器。使用这些探头,可以在 20 或 50 mm 的测量范围内进行触觉测量,精度达到纳米级。高线性长度测量仪的尺寸和 Ø 8 mm h6 的夹紧轴直径与传统测量系统兼容。
集成的激光干涉仪将电机驱动测量主轴的测量运动转换为干涉信号。该光学测量信号通过光纤传输到光电电源和评估单元,并作为长度值输出。测针套筒和集成干涉仪相互调整,同时考虑到阿贝误差和对准误差的最小化。
稳定的氦氖激光器,其光通过光纤馈送到激光干涉仪,并校正环境对激光波长的影响,是高测量精度的基础。操作和显示要么通过单独的显示器,要么通过装有适当软件的 PC。

技术数据

应用领域

  • 高线性探针
  • 无阿贝误差干涉长度测量
  • 在整个测量范围内保持恒定的测量力
  • 适合作为内置测量系统
  • 电动驱动装置
  • 适用于双探头版本中最高精度的厚度测量

适用

  • 质量管理
  • 发展
  • 厚度测量
  • 量块检查

接触式探头的测量原理


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