德国SIOS NMM-1纳米定位与纳米测量机 以纳米精度对物体和结构进行定位、操纵、加工和测量

纳米定位和纳米测量机 NMM-1

以纳米精度对物体和结构进行定位、操纵、加工和测量

  • 世界上最精密的纳米定位和纳米计量机器
  • 测量和定位范围 25 x 25 x 5 mm
  • 分辨率 0.1 nm
  • 最高精度的 3D 定位和测量系统
  • 探测系统,例如激光聚焦传感器、原子力显微镜、白光传感器、3D 微型扫描仪
  • 开放式设备架构支持定制传感器的应用
  • NMM-1 通过 PC 软件进行控制。用户 API 可用。
用于三维坐标测量的纳米定位和纳米测量机在 25 mm x 25 mm x 5 mm 的测量范围内运行,分辨率为 0.1 nm。特殊的传感器布置确保所有三个坐标轴的测量均无像差。三个微型干涉仪的测量轴在探测传感器和被测物体之间的接触点处几乎相交。

被测物体直接位于可移动的镜角上。反射镜角的位置由三个固定的微型干涉仪检测。镜角采用三轴驱动系统定位。两个角度传感器用于测量和补偿定位过程中的角度偏差。

来自一个稳定激光器的光通过光纤从电子单元传输到干涉仪头。这导致了纳米定位和纳米测量机的紧凑且温度稳定的设计。

纳米测量机是世界上唯一一种在正常条件下以亚纳米精度安全适用于宏观物体测量的计量系统,并在多个国家计量机构使用。

技术数据

应用领域

  • 在大空间范围内以纳米级精度对微电子、微机械、光学、微系统技术物体进行定位、操作、处理和测量
  • 可以在大面积上进行连续 AFM 扫描
  • 精密零件的测量,例如硬度压头、膜和微透镜
  • 台阶高度标准和节距标准的校准
  • 无阿贝误差定位
  • 计量测量设置,适用于开发中的传感器的校准和鉴定
  • 开放式设备架构,可使用客户定制的探测传感器

适用

  • 校准
  • 研究/开发

纳米测量机 NMM-1 的计量测量原理


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