德国SIOS SP 5000 DI/DS位移角差分干涉仪 四光束激光干涉位移角差测量系统

位移角差分干涉仪 SP 5000 DI/DS

Displacement-angle differential interferometer SP 5000 DI/DS for highly stable differential length and pitch angle measurements

四光束激光干涉位移角差测量系统

  • 高度稳定的差分长度和螺距角测量
  • XY 载物台的完美选择
  • 光束距离 15 mm(长度测量)和 6 mm(角度测量)
  • 极低的温度灵敏度< 20 nm/K
  • 该设备提供 OEM 和真空版本

SP 5000 DI/DS 干涉仪结合了差分干涉仪和多光束干涉仪的优点。它首次将基于差分原理的高度稳定的长度测量与高分辨率干涉倾斜角测量相结合。这使得不仅可以检测最微小的运动,还可以检测更大区域的最小倾斜,而不会使结果受到热和物理环境的影响。

干涉仪设计用于平面镜和内置测量系统。可以使用反射器。干涉仪使用集成到光束路径中的超稳定光学元件进行调整。

技术数据

应用领域

  • 同时测量长度和角度,以补偿测量装置中的阿贝误差。
  • 使用带有两个传感器头的测量系统时 X-Y 工作台的位置控制
  • 长期稳定的长度和角度测量,最高分辨率的测量

适用

  • 长期测量
  • OEM 应用
  • 最高的稳定性要求

差分干涉仪的测量原理


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