Sinton BLS-I硅锭测试仪器/Sinton BCT-400硅锭测试仪器：优越的硅锭测试仪器
简单、精确、无接触式地测量初长成态或已加工成型硅棒或硅锭的真实体寿命。遵从SEMI标准PV-13。
BLS-I的减震收缩垫能够很好地适应不同的硅锭曲率，所以能够测量各种长成态或已加工成型的硅锭表面。
产品概述
BLS-I和BCT-400测量系统可以直接测量单晶或多晶硅锭或硅砖的寿命，而无需进行表面钝化。由于寿命测试是表征晶体生长和杂质缺陷最灵敏的技术之一，使用该系列产品，您可以在晶体长成后立刻对晶硅质量进行评估。
BLS-I设备应用灵活，能够测量各种各样的表面（150mm直径的曲面至平面）。BCT-400设备更加小巧，专为测量平面设计。BCT-400还可以集成到自动化工作站中，同时对测试软件进行相应设置就能实现无缝自动化测量。
系统功能
Minority-Carrier Lifetime vs. Carrier Density主要应用：
对寿命在1-10毫秒范围内的高纯度硅进行测定
对未经特殊表面处理的长成态B-Cz单晶硅棒进行质量检验
D04对多晶硅锭的寿命和陷阱浓度进行表征
Vinxity-Camm Dee:l Sownike fatter Ditth 0 1.E-13
1.0E+14
1.0E+15
10E-16 Minordty- Carder Density (om)其他应用：
一检测B-O缺陷、Fe污染和表面损伤
一监测Cz直拉硅、Fz区熔硅、多晶硅或UMG升级冶金硅的初始材料质量
例1：对寿命8ms的n型硅锭的一次瞬态测试
Sinton硅锭测试仪器、Sinton多晶硅块寿命测量仪、Sinton硅锭瞬态测试、单晶或多晶硅锭或硅砖的寿命