Suns-voc MX是一款适用于浆料烧结工艺优化和控制的理想测试平台。开路法的测试结果指明了扩散工艺之后任何电池半成品的性能上限。
Suns-voc MX测试台可作为WcT120寿命测试仪的附件,也可作为独立的测试系统购买
Suns-voc MX应用
可以通过直接探测p+和n+区域,或探测金属化层(如果有)来测量光照强度-开路电压曲线。该曲线可显示成我们熟知的suns-Vo曲线,或以标准光伏曲线的形式呈现,可以借此对并联电阻进行表征。整条曲纬数据是在开路条件下测量获得,因此不受串联电阻的影响。将该曲线与最终的I-V曲线进行比较,可以准确获得电池中的串联电阻。
Suns-voc MX系统特征
- 样品台温度控制在25°C
- 针管式电压探
- 包含升级的3种配置的磁性探针
- 氙气闪光灯,并配有中性密度滤光片
- 可通过调节支柱高度,对光照范围进行微调
- 显示标准I-V曲线和 Suns-voc曲线
- 测量硅片不受串联电阻的影响时的理想特性、有效寿命特征曲线,和衬底掺杂
- 选配订制的IBC样品台
