代理SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析仪
微观泡沫和乳液膜的形成、其行为的观察和几个物理化学参数的测量
SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析仪 原理基于著名的液膜压力平衡技术。微观泡沫和乳液膜是在改进的 Scheludko-Exerowa 池中获得的，该池专门设计用于在该仪器的紧凑架构中实现最佳兼容性。薄膜厚度通过干涉测量。该仪器配备了数码相机，可以同时观察薄膜并测量其厚度，两者均由现代 Windows 软件控制。
SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析仪 零件
配备数码相机的倒置显微镜和
– 单色光源
– 光传感器模块
温度控制测量单元有两种修改，允许：
i)在恒定毛细管压力下形成薄膜
ii)对薄膜施加外部压力
– 压力控制单元
