SenTek铝业 SenTek 500系统 SenTek 535测厚仪 SenTek多区域轮廓测量仪-MZP 1000
SenTek铝业工业服务
SenTek自豪地提供旨在满足重工业客户需求的产品和服务。下面列出的产品是我们的一些建议和按行业分类的表现最佳的产品：
铝工业产品
感应工作辊加热系统
实验室测量系统
SenTek 1000系统
SenTek 500系统
SenTek 535测厚仪
SenTek多区域轮廓测量仪-MZP 1000
SenTek样品和标准
STB-1 Sr-90β测量仪300mCi
STB-2 Sr-90β测量仪400mCi
STB-3 Sr-90β测量仪（300或400mCi）
STG-1 Am-241伽马仪1000mCi
STG-2 Am-241伽玛计3000mCi
STXR-1箔X射线测厚仪
STXR-10 X射线测厚仪
STXR-2型X射线测厚仪
STXR-3 X射线测厚仪
STXR-5重型X射线测厚仪
SenTek 500系统
我们1000系统的缩小版
我们的500系统是1000系统的缩小版，组件更少，尺寸更小，成本也大大降低。
500系统可作为同位素和X射线测厚仪的单仪表配置。它是DataLogger 500系统的平台基础，旨在支持我们的实验室测量产品。
我们的500系统完全由市售的现成DIN导轨安装组件构建，便于维修、低成本和快速交付。该系统的核心是一台配备Windows XP的工业加固PC，与1000系统中使用的PC完全相同。500系统复杂性的降低使其组件数量非常少，从而降低了成本并提高了可靠性。
PC内部有一个由LabVIEW仪器软件驱动的高速多线程DSP卡。
500系统支持许多不同的网络接口和主机链路协议，包括TCP/IP、OPC、ModBus、RS-232串行链路、PROFIBUS、MessageQ等。
附加功能：
500系统可提供有限数量的额外模拟和数字I/O，用于远程控制和按钮站。
标准配置为工业硬化TFT或LCD触摸屏，以及可折叠键盘架。还支持远程彩色触摸屏操作员显示器和键盘。
500系统内置于紧凑、节省空间的壁挂式机柜中。
SenTek 535测厚仪
紧凑型通用X射线测量系统
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我们很高兴推出SenTek 535测量系统，这是一种基于STXR-10 X射线传感器和SenTek 500测量电子平台的新型、紧凑、经济的厚度测量系统。535 X射线的低成本和经济性是低组件数量和模块化设计的结果——535 X射线测量仪的组件数量是我们所有X射线系统中最少的。低组件数量使测量系统的可靠性和易用性远远超出了其价格标签。
STXR-10 X射线传感器具有独特的空气冷却设置，不需要外部冷却器，大大节省了成本和维护麻烦！
STXR-10和500系统是我们新型535模块化X射线测量仪的主要组成部分：
附加功能：
535通用X射线测量仪特别适用于检测线、纵切机、再卷取机和作物剪切测量仪。它也可以用作入门级轧机量规。STXR-10 X射线传感器的独特空气冷却使其能够在高达80至90摄氏度的环境温度下舒适运行。
535个传感器组件的紧凑尺寸允许C形框架和传感器外壳的紧凑、低轮廓设计。535可以安装在许多较大仪表不适合的空间中。
SENTEK多区域轮廓测量仪-MZP 1000
热轧机轮廓测量仪
SenTek的1000系统现在可作为铝热轧应用的多区跨机同步轮廓测厚仪提供。SenTek 1000 MZP最多可提供45个平行测量区，可为弯曲、侧边设置、校平、点冷却和带材边缘管理提供精确测量。SenTek 1000 MZP具有扇形束x射线源，每个x射线源有1、2或3个探测器，具体取决于应用和所需的分辨率。同一机架上最多可以安装15个X射线源。
基于SenTek简单可靠的STXR-10厚度传感器，与前几代测量系统相比，1000 MZP测量仪的组件更少，成本更低，易于维护。SenTek的多区域轮廓测量仪采用安装在防震防震悬架中的强制风冷X射线源。独特的气流通风装置和强制空气冷却系统使X射线源在热轧机环境中能够舒适地工作。
附加功能：
在多区域轮廓测量仪应用中，每个X射线源都可以与一个、两个或三个X射线探测器的探测器外壳配合使用。
所有SenTek 1000 Gauge系统都有可选的线圈报告功能。对于SenTek 1000 MZP测量仪，标准线圈报告具有中心线测量区的基于长度的厚度轨迹，以及便于查看厚度趋势和异常的三维表面图。线圈报告文件可以根据需要存档在仪表硬盘或文件服务器上。
SenTek的1000仪表系统可以配备双监视器输出，使操作员能够同时看到仪表测量和控制动作。
当多个控制参数以不同的格式显示在不同的屏幕上时，即使是经验丰富的操作员也会分心。SenTek的测量系统提供了一个全面的轮廓管理概述显示，使操作员能够详细了解影响厚度轮廓的所有轧机参数，包括弯曲、偏斜和点冷却。
得益于LabVIEW的灵活性，用于计算%轮廓、侧集和许多其他轮廓资格号的自定义算法很容易被吸收到操作员信息中。
射线源
线圈报告
线圈报告
