代理Scionix Holland 76B76/3M-HV-E2闪烁体探测器
Scionix Holland闪烁器是将电离辐射损失的能量转换为光脉冲的材料。在大多数闪烁计数应用中,电离辐射的形式是X射线、X射线和A粒子或X粒子,其能量从几千电子伏到数百万电子伏不等。
Scionix Holland BV是一家专业设计和制造基于闪烁原理的核辐射检测仪器的公司。该公司成立于1992年。
除了广泛的标准闪烁探测器之外,我们还为终端用户提供了大量的定制闪烁探测器。所有已知和普遍可用的闪烁材料从塑料闪烁体和液体闪烁体到无机晶体,如NAI(TL)、集成电路(TL)、高密度Bgo和高分辨率CEbr3晶体。
Scionix闪烁材料中的相互作用
电磁辐射可以通过1。光电效应,2。康普顿效应或3。成对产生。效应3仅在1.02 MeV以上的能量上发生。实际上,所有效果都有发生的机会,这种机会与吸收剂(闪烁材料)的辐射能量和原子数(Z值)成正比。
在光电效果中,辐射的所有能量都转化为光。当确定撞击X射线或伽马射线光子的实际能量时,此效果很重要。能量越低,Z值越高,照片效应的机会就越大。
在实际应用中,几个交互过程起着作用。
图2.1显示了一个典型的脉冲高度光谱,该光谱是通过直径为76 mm的76 mm高NAI(TL)晶体测量的,其中检测到137CS源发出的辐射。指示Photopopeak,Compton最大值和反向散射峰。大约30 keV的线是源X射线也由源发出的。
闪烁器的总检测效率(计数效率)取决于闪烁材料的大小,厚度和密度。但是,对于例如γ射线光谱的重要性,光峰计数效率是闪烁体的Z4-5的强大功能,并且增加了。在低于100 KEV的能量下,电磁相互作用由光电效应主导。
电子(例如β颗粒)可以反向散射从一种暗示在交互过程中不会损失能量的材料,根本没有检测到粒子。反向散射部分与材料的Z成正比。对于NAI(TL),反向散射分数可以高达30%。这意味着,为了有效检测电子,首选诸如塑料闪烁体或EG CAF2:EU或YAP:CE等低Z材料。窗户材料也很重要。