riftek二维光学测微仪
二维光学测微仪专用于非接触式在线二维批量测量，可检测线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动量等。该设备采用”阴影”测量原理：准直激光射向接收器，光束路径中物体产生的阴影边缘由接收器内部的探测器阵列进行精确测量。
本系列包含三大类型：
RF657.2D —— 扩展量程的高精度高速测微仪；
RF657R.2D —— 配备圆形视场（FOV）的扩展量程高精度高速测微仪；
RF656.2D —— 经济型系列。
RF657.2D系列
测量范围：15×20/25×35/40×50/60×80毫米
精度：±0.5~±3微米
曝光时间：15微秒
RF657R.2D系列
测量范围（直径）：25/45/70/100毫米
精度：±0.5~±3微米
测量速率：15次/秒
RF656.2D系列
测量范围：8×10/15×20/25×35/40×50毫米
精度：±1.5~±4.5微米
测量速率：100次/秒
