一维光学测微仪
一维光学测微仪采用”阴影”测量原理：准直激光射向接收器，由光束路径中物体产生的阴影边缘被接收单元内的探测器阵列精确测量。该非接触式设备可理想测量线材、棒材及其他圆柱体直径，以及几何物体的间隙、边缘位置与尺寸特征。
本系列包含三大类型：
RF651 —— 直射式测微仪；
RF656 —— 采用远心镜头的高精度直射式测微仪；
RF656XY —— 高精度双轴测微仪。
RF651系列
直射式测微仪
发射器与接收器间长距离测量
量程范围：25/50/75/100毫米
精度：±5~20微米
最高扫描频率：2000赫兹
RF656系列
远心镜头高精度测微仪
量程范围：5/10/25/50/75/100毫米
精度：±0.3~5微米
最高扫描频率：2000/10000赫兹
RF656XY系列
高精度双轴测微仪
量程范围：10/25/50/75/100毫米
精度：±0.3~5微米
最高扫描频率：2000/10000赫兹
