RIFTEK RF651/ RF656/RF656XY 一维光学微米测量仪、RIFTEK 1D光学千分尺、微米测量仪、进口代理RIFTEK
RIFTEK RF651/ RF656/RF656XY 一维光学微米测量仪
1D Optical Micrometers
一维光学微米测量仪采用“阴影测量”原理进行工作：经过准直的激光被发射到接收装置中，物体在激光光路中形成的阴影边缘会被接收装置内的检测阵列精确地测量出来。这类光学微米测量仪属于非接触式测量设备，除了能够用于测量间隙、边缘位置以及几何物体的尺寸参数外，还非常适合用于检测导线、棒材等各类圆柱形物体的直径。
该系列包括两条产品线：
RF651——通过光束微米计进行直接测量；
RF656— 通过采用远心镜头的光束微米测量仪来实现高精度测量；
RF656XY— 高精度的双轴微米测量仪。
RIFTEK RF651系列光束微米计
- 直射式光束微米计
- 发射器与接收器之间的距离较远
RIFTEK RF651系列光束微米计主要参数
测量范围，毫米：25, 50, 75, 100
精度，微米：± 5…20
最大扫描频率，赫兹：2000
RIFTEK RF656系列微米测量仪
- 采用远心透镜的高精度微米测量仪
RIFTEK RF656系列微米测量仪主要参数
测量范围，毫米：5, 10, 25, 50, 75, 100
精度，微米：± 0.3……5
最大扫描频率，赫兹：2000, 10000
RIFTEK RF656XY系列高精度双轴微米测量仪
- 高精度双轴微米测量仪
RIFTEK RF656XY系列高精度双轴微米测量仪主要参数
测量范围，毫米：10, 25, 50, 75, 100
精度，微米：± 0.3……5
最大扫描频率，赫兹：2000, 10000
