RIFTEK,RF657.2D,RF657R.2D,RF656.2D,二维光学显微测量仪,用于非接触式的在线二维批量测量

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二维光学显微测量仪旨在用于非接触式的在线二维批量测量,包括线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等。
光学显微测量仪采用“阴影”测量原理,其中平行的激光光束被传输到接收器。物体在光束路径中投射的阴影边缘通过接收单元内的探测器阵列精确测量。
该系列包括三种型号:
RF657.2D — 高精度、高速显微测量仪,具有扩展测量范围
RF657R.2D — 高精度、高速显微测量仪,具有扩展测量范围和圆形视场
RF656.2D — 经济型系列

型号:

订货信息:

RF65х.2D-R-LP-LS-LI

标志描述
х6或7或7R
R光学传感器的测量范围。
RF656.2D-(FOV,高x宽,毫米):
8×10
25×30
30×40
40×50
RF657.2D-(FOV,高x宽,毫米):
25×35
40×50
60×80
RF657R.2D-(FOV,直径,毫米):
· 45
· 70
· 100
LP控制器电源线的长度,m
LS光学传感器的电源和同步电缆的长度,m。
LI以太网电缆的长度,m(最大值。100).

示例:RF 656.2d-40 x50-3-3-10–光学传感器,测量范围为40×50 mm,控制器电源线长度为3 m,光学传感器电源线长度为3 m,以太网电缆长度为10 m。

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