RIFTEK 2D 光学千分尺RF656.2D系列非接触式在线二维批量测量

RIFTEK 2D 光学千分尺RF656.2D系列非接触式在线二维批量测量

批量在线尺寸测量
测量范围：从 8×10 mm 到 60×80 mm
精度：±0.5 微米
集成时间，不超过 15 微秒

2D 光学千分尺设计用于对线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等进行非接触式在线二维批量测量。
光学千分尺使用“阴影”测量原理，准直激光被传输到接收器。
光束路径中物体投射的阴影边缘由接收器单元内的探测器阵列精确测量。
该系列包括三个型号系列：
RF657.2D — 高精度、扩展量程的高速千分尺;
RF657R.2D — 高精度、高速千分尺，具有扩展量程和圆形视场角;
RF656.2D — 预算系列。

RF657.2D 系列

测量范围，mm
15х20, 25х35, 40х50, 60х80
精度 （um）
±0.5 …±3
曝光时间，us
15

RF656.2D 系列光学传感器的技术特点：

RF656.2D 系列		-8×10	-15×20	-25×35	-40×50
测量范围，mm		8×10	15×20	25×35	40×50
测量误差，μm		±1.5	±2	±2.5	±4.5
沿施加测量误差的轴 的距离，mm		±1	±2	±3	±4
最小物体尺寸 mm		0.07	0.15	0.2	0.35
速度，测量值/秒		最多 65 个
曝光时间，我们		100
光源		LED，630 nm，红色
外形尺寸、图		1	2	2	4
重量，不超过 kg， kg		1.1	2.3	2.3	5.6

RF657R.2D 系列

测量范围，直径，mm
25, 45, 70, 100
精度 （um）
±0.5 …±3
速率，测量值/秒
15

RF657.2D 系列光学传感器的技术特性：

RF657.2D 系列		-15×20	-25×35	-40×50	-60×80
测量范围，mm		15×20	25×35	40×50	60 像素 80 元
测量误差，μm		±0.8	±1.2	±2	±3
沿施加测量误差的轴 的距离，mm		±5	±10	±15	±20
最小物体尺寸 mm		0.13	0.13	0.2	0.3
速度，测量值/秒		24
曝光时间，我们		15
光源		LED，525 nm，绿色
外形尺寸、图		5	6	7	8
重量，不超过 kg， kg		5	5.6	10.1	22.3

结构和工作原理

千分尺的作基于所谓的“影子”原理。 2D 千分尺的主要组件是光学传感器和控制器。

千分尺的光学传感器由两部分组成 – 发射器和 接收器。来自 LED 的光被透镜准直。当产品放置在 区域，其阴影图像由接收器镜头投射到 2D 上 CMOS 传感器。根据图像阴影边框的位置（对象配置文件）， 控制器计算对象所需的参数。

根据创建的算法进行测量和公差控制 由用户。为了构建测量算法，提出了一个简单直观的工具 – 测量方案。该方案由现成的块库组成。各种 块和它们之间的连接的组合允许用户创建一个几乎 无限数量的测量函数和不同复杂程度的测量产品。 测量结果可以通过各种协议（Ethernet/IP、Modbus TCP、 UDP） 以及用于控制执行器的千分尺的逻辑输出和 表明产品的适用性。

 

连接选项 RF65x.2D

数字。连接选项 RF65x.2D 的框图

红色框显示标准集，其中包括：

• 控制器 RF656.2D SuM.
• 所需范围的光学传感器 RF656.2D（一个控制器最多可连接四个光学传感器）。
• 用于将光学传感器连接到控制器的以太网电缆。
• 带同步线和输出线的光学传感器电源线。
• 控制器电源线。

绿色框显示作千分尺所需的维修设备。使用计算机或带有连接到控制器的键盘的显示器来参数化千分尺、生成测量方案、显示结果等。

紫色框显示连接到千分尺控制器的过程自动化工具（作面板和/或可编程逻辑控制器），如果需要。