RIFTEK 1D 光学千分尺测量传感器RF656XY 系列高精度双轴千分尺

RIFTEK 1D 光学千分尺测量传感器RF656XY 系列高精度双轴千分尺

光学干分尺
系列 RF651、RF656、RF656XY
光学千分尺是非接触式设备，除了测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特性外还可以理想地测量线材、棒材和其他圆柱体的直径

1D 光学千分尺使用“阴影”测量原理，准直激光被传输到接收器。光束路径中物体投射的阴影边缘由接收器单元内的探测器阵列精确测量。光学千分尺是非接触式设备，除了测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特性外，还可以理想地测量线材、棒材和其他圆柱体的直径。
该系列包括两个型号系列：
RF651 — 直接对射式千分尺;
RF656 — 带远心镜头的高精度对射式测微计;
RF656XY — 高精度双轴千分尺。

测量范围，mm：
5, 10, 25, 50, 75, 100
精度，μm：
± 0,3…5
最大扫描频率 Hz：
2000, 10000

1D 光学千分尺 RF65xy。规范