波兰RIFTEK 1D 光学千分尺 直接对射式千分尺 高精度双轴千分尺
1D 光学千分尺使用“阴影”测量原理，准直激光被传输到接收器。光束路径中物体投射的阴影边缘由接收器单元内的探测器阵列精确测量。光学千分尺是非接触式设备，除了测量几何物体的间隙、边缘位置和尺寸特性外，还可以理想地测量线材、棒材和其他圆柱体的直径。
该系列包括两个型号系列：
RF651 — 直接对射式千分尺;
RF656 — 带远心镜头的高精度对射式测微计;
RF656XY — 高精度双轴千分尺。
RF651 系列
- 直接对射式千分尺
- 发射器和接收器之间的距离长
测量范围，mm：
25, 50, 75, 100
精度，μm：
± 5…20
最大扫描频率 Hz：
2000
RF656 系列
- 带远心镜头的高精度千分尺
测量范围，mm：
5, 10, 25, 50, 75, 100
精度，μm：
± 0,3…5
最大扫描频率 Hz：
2000, 10000
RF656XY 系列
- 高精度双轴千分尺
测量范围，mm：
5, 10, 25, 50, 75, 100
精度，μm：
± 0,3…5
最大扫描频率 Hz：
2000, 10000
