波兰RIFTEK RF65X系列一维光学测微计 光学千分尺 光束测微计

RF65X系列一维光学测微计

一维光学测微计 采用“阴影”测量原理，通过将准直激光传输到接收器来工作。光束路径中物体投射的阴影边缘由接收器单元内的探测器阵列精确测量。光学测微计是非接触式设备，非常适合测量电线、棒材和其他圆柱体的直径，以及间隙、边缘位置和几何物体的尺寸特征。

该系列包括以下两种型号：

• RF651：直射式光束测微计；
• RF656：配备远心透镜的高精度光束测微计；
• RF656XY：高精度双轴测微计。

RF651 系列

• 直射式光束测微计
• 发射器与接收器之间距离较长

技术参数：

• 测量范围（毫米）：25、50、75、100
• 精度（微米）：±5…20
• 最大扫描频率（赫兹）：2000

 

RF656 系列

• 配备远心透镜的高精度测微计

技术参数：

• 测量范围（毫米）：5、10、25、50、75、100
• 精度（微米）：±0.3…5
• 最大扫描频率（赫兹）：2000、10000

 

RF656XY 系列

• 高精度双轴测微计

技术参数：

• 测量范围（毫米）：5、10、25、50、75、100
• 精度（微米）：±0.3…5
• 最大扫描频率（赫兹）：2000、10000