ramé-hart 400 型测角仪/张力计
带晶圆支撑的 400 型测角仪/张力计专为半导体行业设计。该型号包括标准的 3 轴调平样品台，以及 21 英寸长的工作台。该系统还包括一个直径为 8 英寸（200 毫米）的旋转晶片支架，可以升级到 10 英寸或 12 英寸或 13.625 英寸，甚至可以配备 6 英寸或 4 英寸的支架。也可选择 6″ 和 8″ 直径的真空吸盘。此外，可以根据客户要求构建自定义支持选项。400 型包括 DROPimage Pro 软件 – 能够测量接触角、表面能、表面张力和界面张力。仪器出厂时配有 PC 和 LCD。该 自动配送系统 是最流行的升级选项。建立在久经考验的 ramé-hart 设计基础上的经济实惠的解决方案使 400 型测角仪/张力计在行业中广受欢迎，尤其是芯片制造商或任何处理晶圆或类似尺寸基板的实验室。DROPimage临小号oftware措施的接触角，并包括一套表面能工具，包括：酸碱工具，表面能的工具，附着力工具，齐斯曼的绘图工具，固-液-液表面能工具的工作， One-Liquid SE 工具。它们也是一种表面张力工具，用于测量液体的表面张力和界面张力。该软件可以升级到 DROPimage Advanced，无需任何额外的硬件。还可以添加手动倾斜底座选项，用于测量前进和后退角、确定滚降角和计算接触角滞后。自动倾斜底座选项需要软件升级到 DROPimage 高级. 该 自动点胶系统中使用或不使用软件升级完全支持。在半导体制造过程中，该工具用于测量涂层和表面处理的质量和均匀性。大直径外形也适用于玻璃、硬盘盘片和其他大平面。
| 400 型热门款 | |
| 100-22 | 自动配药系统 |
| 100-21-VC | 真空吸盘 |
| 100-15 | 薄膜夹 |
| 100-30 | 珀尔帖环境室 |
| 100-12-U2 | U2 系列 SuperSpeed 750FPS 升级套件* |
| 900-24 | DROPimage 高级升级 |
| * U2 升级需要 DROPimage 高级升级 | |
ramé-hart 400 型有一个在阵容中的独特地位ramé-hart 提供的乐器仪器公司：这是唯一的专门建造的并针对特定的工业——半导体制造商。今天的芯片制造商都参与其中在最技术和具有挑战性的制造任务。加工方式需求越来越复杂和复杂的方法和监测系统检测污染物并减少脱气（分子污染，或 MC），其中可以降低产量并降低利润。ramé-hart 一直是领导者帮助芯片制造商检测MC 的过量水平通过接触角。 纯去离子水滴沉积在已经氧化的硅片在普通洁净室下制造条件。 如果接触角大于特定的设定值，然后超额有机缩合有发生了。在具体而高度受控清洁过程发生，晶片再次通过接触角检查确保他们没有污染物。我们的 400 型用于第一个 10k 洁净室菲律宾正是为此目的。虽然 Model 400 针对芯片制造商，它也适合对于需要的其他应用程序一个大的旋转圆形标本阶段。随附的 DROPimage Pro软件措施，除了接触角，表面能（使用七种不同的方法），以及表面和界面紧张。400 型可以很容易地定制。 自动化的点胶系统很受欢迎选项并在 QC 中推荐许多测试的环境每天制作，在哪里制作可重复性很重要。旋转晶圆支架可以也升级到更大的10，12 甚至 13.625 英寸的支持，或降级为 6 或 4 英寸支持。真空夹头可用于有 6 英寸和 8 英寸的尺寸。
产品参数
