XPT-CPL大颗粒（干式）粒度与形状分析仪
XPT-CPL 粒度仪用于大颗粒的测量
XPT-CP 工作原理：粉末样品被装入漏斗中。由图像分析软件控制的振动给料器通过分析池定量供给粉末。颗粒通过CCD相机的聚焦区域落下，连续拍摄图像并在线分析和显示。结果为颗粒大小和形状分布：直径、长度、厚度、圆度…
或者：在颗粒流中进行在线测量
完整系统包括不锈钢外壳、相机、振动给料单元和控制器、氙气闪光灯照明、PC和软件
技术数据：
外壳尺寸 700 x 300 x 120毫米
测量范围：50微米 – 30毫米
应用：
大颗粒和颗粒料
测量颗粒大小和形状分布
通过形状检测异物
铁矿石、生球团、石头、陶瓷
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