Princeton Scientific加速器、束流线系统和束流诊断设备、法拉第杯、束流阻挡器、束流剖面测量系统以及超高真空直线/旋转馈通装置
普林斯顿科学公司为加速器科研领域提供专业产品与服务。
我们在科研级、工业级及商用加速器系统的束流线系统和束流诊断设备领域拥有深厚技术积累，专注于加速器相关设备的定制化设计。凭借遍布全球的科学家与工程师网络，我们始终以创新精神、卓越品质和客户满意度为核心追求，为全球科研工作者提供端到端的设计、工程与系统集成解决方案。公司生产的法拉第杯、束流阻挡器、束流剖面测量系统以及超高真空直线/旋转馈通装置在学术界享有盛誉。
真空室
圆柱形或矩形超高真空（UHV）腔体用于安装束流诊断设备、真空计、电馈通装置及抽气系统。在完成各类必要组件的优化布局后，支撑法兰与束流轴线的间距需保持均匀。采用压缩气动馈通等通用元件时，可设计为统一行程规格，从而实现沿加速器管线的互换性。
超高真空腔体
双金属法兰
金属-陶瓷封接
金属-陶瓷封接
陶瓷真空室广泛应用于加速器的注入、快速引出和束流激励单元。这些氧化铝腔体安装在快脉冲（纳秒级）磁铁（如冲击磁铁、校正磁铁、截束磁铁或扫描磁铁）中，其应用可避免金属腔壁对快速变化外部磁场的屏蔽效应，并消除涡流导致的发热问题。为防止静电荷积累并减少陶瓷表面二次电子发射，内壁需喷涂低导电性薄层。
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高真空馈通
高精度通用型高真空馈通，定位精度达±0.03mm（单轴/双轴版本）。该馈通装置用于实现高真空系统内部元件的线性位移，可通过主轴末端（真空内侧）安装各类定制组件，并利用主轴内孔对安装元件进行冷却。在加速器技术领域，该通用馈通适用于光阑系统、发射度测量装置、扫描器及频率调谐器的组装。
通用高精度系列
压缩气动驱动系列
简化型双轴精密系列
束流剖面测量
束流剖面测量系统
用于测量加速离子束或电子束在二维横向（X/Y方向）的强度分布，可选配多平面测量栅网。工作原理：X/Y平面测量丝收集带电粒子，所捕获电荷经转换后形成表征束流剖面强度的能量信号。
完整系统配置包含：
压缩气动高真空馈通（实现测量栅网在束流路径中的移入/移出）
带适配器的测量栅网及框架（连接气动馈通）
信号处理电子单元
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发射度测量装置
由高精度真空馈通、探测组件（含发射度测量腔）及狭缝/探测器组件构成。通过窄缝选取部分束流进行测量，狭缝后方的探测器系统可测量选定束团的发散度，该功能通过多 strip 收集器阵列的电流测量实现。
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可调分段光阑
适用于真空腔体入口端口，功能包括：
束流尺寸限制
束流位置粗略定位
配合硬件联锁系统，可防止因束流调校失误损坏加速器组件。
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束流阻挡器
用于收集加速粒子，可安装于束流线末端或标准诊断腔体的下游法兰。
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电容拾取探头
用于观测射频加速器的粒子束微结构，需配合宽带信号处理系统使用。拾取信号可观测束团形态，并基于射频参考信号测量束团时间位置。
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法拉第杯
提供冷却型、非冷却型及同轴型法拉第杯，用于测量粒子加速器的平均束流电流。高能加速粒子在杯体内被阻停，其电荷被检测为相应电流。可通过气动真空馈通装置将法拉第杯移入束流路径。
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旋转丝扫描器
通过真空束流传输线内旋转的测量丝检测束流强度横向分布。测量丝通过直接捕获粒子或监测二次电子释放电荷实现强度剖面测量。扫描系统本体安装在CF-150法兰上，可直接连接标准诊断腔体。
粒子束流线与诊断设备 1
四杆型射频四极加速结构（RFQ）
提供多种四杆型RFQ结构，并配套以下服务：
射频系统设计与制造
真空系统设计与制造
基于PC或VME的控制系统交付（含全套硬件与软件）
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粒子束流线与诊断设备 2
颚型狭缝系统
配备超高真空馈通（LM 17型），用于粒子加速器束流传输系统中的束流尺寸限制、束流分析及能量定义。狭缝颚体可采用钽板覆盖的冷却铜块结构，使用真空钎焊工艺（Degussa SCP 3 AT，930°C）确保铜与钽的良好热传导，并在钽颚与铜体间嵌入薄铜板以缓解热应力。
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