Princeton Scientific STANDARD SIZE OR CUSTOM-MADE Substrates / Wafers 标准尺寸或定制 基材/晶圆

精确的表面和精确的定位
晶体的各向异性特性在研究和开发中具有广泛的应用。普林斯顿科学公司为薄膜应用提供基材，作为目标或为个人应用量身定制，具有最高的质量和极具竞争力的价格。

属性
方向：
立方和四方晶体的（100）、（001）、（111）、（110）
六方晶体的（0001）、（1102）、（1120）、（1010）
米勒指数值较高或邻近基质的其他取向
定位精度：±0.5°，典型值<0.3°，或根据要求更高

典型尺寸：
5毫米x 5毫米、10毫米x 10毫米、10 mm x 5毫米和15毫米x 15毫米
12.7毫米x12.7毫米，20毫米x20毫米，25毫米x25毫米，ø1英寸，ø2英寸
横向公差：+0/-0.05 mm
典型厚度：
0.5毫米、1.0毫米，其他厚度可根据要求降至0.1毫米
垂直公差：+/-0.05 mm，或根据要求提供更好的公差

抛光：
单面或双面表面抛光
表面质量：放大50倍无划痕
微粗糙度（用干涉仪显微镜测量）
（横向分辨率：0.64µm，垂直分辨率：理论0.01 nm）
粗糙度：（λ截止=0.08 mm）
Ra：小于0.5纳米
Rq:<1.0纳米
Rt：小于2.0纳米
每批包含的粗糙度证书
根据要求对侧面（圆柱体）进行光学抛光。

材料：
规格