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波兰PREVAC Electron source ES 40C1可扫描离子源
波兰PREVAC Mini MBE systems沉积系统,分子束外延系统
波兰PREVAC Standard PES systems光电子能谱系统,分析各种纳米材料
波兰PREVAC 032 PRIMS basic MS system磁控溅射系统
波兰PREVAC Standard MS systems磁控溅射系统
波兰PREVAC BCU14烘烤加热控制单元,专用于真空系统加热区
波兰PREVAC VCH-10高亮真空室,用于照亮 UHV 系统内的样品区域
波兰PREVAC MG15离子多规控制器,支持有源压力表及无源压力表
波兰 PREVAC MOKE systems
波兰 PREVAC AFM/STM systems 扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)系统 原子力显微镜分析系统
波兰 PREVAC Tribometers 摩擦计
波兰 PREVAC TPD/TDS system 测量超薄膜吸附/解吸的独立系统
波兰 PREVAC Beam flux monitor 电子束流监测器
波兰 PREVAC Quartz balance QO 40A1 石英天平 QO 40A1
波兰 PREVAC Magnetron source 3-inch targets 磁控管源3英寸靶
波兰 PREVAC Magnetron source 2-inch targets 磁控管源 2英寸靶
波兰 PREVAC Electron beam evaporator EBV 40A1 电子束蒸发器 电子束蒸发源 EBV 40A1
波兰 PREVAC Effusion cell EF 40C1 蒸发源EF 40C1
波兰 PREVAC Double filament effusion cell EF 40C1DF 双灯丝蒸发源EF 40C1DF
波兰 PREVAC Low temperature effusion cell EF 40LT1 低温蒸发源 EF 40LT1
波兰 PREVAC Hemispherical energy analyser EA15 半球能量分析仪EA15
波兰 PREVAC Hemispherical energy analyser EA15-HP5 半球能量分析仪EA15-HP5
波兰 PREVAC Hemispherical energy analyser EA15-HP50 半球能量分析仪EA15-HP50
波兰 PREVAC X-ray source with monochromator RMC50 带单色仪X射线源
波兰 PREVAC X-ray source RS 40B1 X射线源
波兰 PREVAC UV source with monochromator 带单色仪的紫外光源
波兰 PREVAC UV source UVS 40A2 紫外线源
波兰PREVAC Ion source IS 40E1 离子源
波兰PREVAC Ion source IS 40C1
波兰PREVAC Ion source IS 40F1 离子源
波兰PREVAC Flood source FS 40A1 大束流离子源
波兰PREVAC 离子源 IS 40C1 离子枪 高离子束电流 用于样品表面清洁 具有高斯光束轮廓
PREVAC 热解吸光谱仪 TDS 40A1 升温解吸 TPD
PREVAC 半球能量分析仪 EA15 高分辨率PES测量
波兰 PREVAC, 硬件,自动化与控制,PLC/HMI 控制
波兰 PREVAC, 硬件,自动化与控制,PLC/HMI 控制
波兰 PREVAC, 传输系统,线性传输,设计用于在 UHV 条件下在腔室之间运输样品架/样品。
波兰 PREVAC, 传输系统,运输箱,用于在超高真空条件下在不同 UHV 系统之间运输样品
波兰 PREVAC, 传输系统,径向分配系统,用于在与其相连的多个分析,沉积或制备室之间转移样品
波兰 PREVAC, 沉积系统 ,PLD 系统,标准 PLD 系统
波兰 PREVAC,分析系统,FTIR 光谱系统,专为红外光谱研究而设计
波兰 PREVAC, 分析系统,光电子能谱系统,标准 PES 系统
波兰 PREVAC, 沉积系统, 磁控溅射系统, 标准 MS 系统
波兰 PREVAC, 沉积系统, 磁控溅射系统 032 PRIMS ,basic MS 系统
波兰 PREVAC, 仪器,分析仪器 ,带光栅 RMC50 的 X 射线源
波兰 PREVAC, 仪器,分析仪器 ,半球形能量分析仪 EA15
波兰 PREVAC, 仪器,分析仪器 ,紫外线光源 UVS 40A2,各种放电气体运行的高强度光子源
波兰 PREVAC, 仪器,分析仪器 ,电子源 ES 40C1,具有小光斑轮廓的可扫描电子源
波兰 PREVAC,电子, 用于沉积的电子元件,磁控管电源 M600DC-PS,驱动多达 3 个磁控管源
波兰 PREVAC,电子, 用于沉积的电子元件,沉积过程控制器 DPC10
波兰 PREVAC,电子, 分析用电子,样品加热电源 HEAT3-PS,双模式加热（电阻和电子轰击）
波兰 PREVAC,电子, 分析用电子,离子源电源 IS40-PS,高稳定性和低噪音电源
波兰 PREVAC,电子 控制和测量,功率控制单元 PCU16,用于控制 UHV 真空系统
波兰 PREVAC,电子 控制和测量,厚度监测控制器 TMC13,沉积电子
波兰 PREVAC,电子 控制和测量,沉积过程控制器 DPC10,用于沉积过程控制的新型电子单元
波兰 PREVAC,电子 控制和测量,离子多压力表控制器 MG15
PREVAC FTIR光谱系统 红外光谱仪 MOKE系统 超薄磁膜 TPD/TDS系统 超薄膜吸附/解吸 AFM/STM系统 原子力显微镜 摩擦计
PREVAC 光电子能谱系统 纳米材料分析系统 PES系统 HPPES 同步加速器 光束分析平台 ARPES、UPS、XAS 或 LEED
PREVAC 沉积系统 旋涂机 金属薄膜、聚合物涂层、有机薄膜 真空覆膜
PREVAC 脉冲激光沉积系统 PLD系统 沉积系统 表面科学和材料研究 ARPES、IBS、磁控溅射和 MBE 纳米结构层
PREVAC MBE系统 沉积系统 分子束外延 离子源 单晶的薄膜沉积 原子层沉积 真空镀膜
PREVAC 磁控溅射系统 沉积系统 PRIMS 真空镀膜 电子束蒸发 反应溅射
PREVAC 傅里叶变换红外光谱系统，PREVAC FTIR光谱系统
PREVAC 高压光电子能谱系统，用于在超高真空（UHV）或环境压力条件下对纳米材料进行分析，压力范围2×10^-9 mbar至50 mbar
波兰Prevac 光电子能谱仪 PES system, 适用于超高真空（UHV）环境中光电子能谱实验的分析系统，配有可控样品温度。
波兰Prevac 真空光源VCH-10 , 真空用光源，用于照明超真空系统中的样品区域和运动区域
波兰Prevac HEAT3-PS样品加热电源
波兰PREVAC MG15超高真空离子规控制器
PREVAC 半球能量分析仪 EA15 PES测量
PREVAC 热解吸光谱仪 TDS 40A1 升温解吸 TPD
电子源 ES 40C1 用于 扫描应用 AES 成像 EELS 和电子脉冲或解吸实验 （ESD）
洪水源 FS 40A1 电子枪 电子驱动源 半导体电荷中和 XPS AES SIMS
离子源 IS 40C1 离子枪 高离子束电流 用于样品表面清洁 具有高斯光束轮廓
离子源 IS 40E1 离子枪 用于XPS，ISS和SIMS中的深度剖析 样品表面清洁
紫外线源 UVS 40A2 高强度光子源 紫外光电子能谱 UPS
带单色器的紫外光源 用于纳米结构研究 高功率单色紫外光源 布拉格衍射 紫外线辐射
X 射线源 RS 40B1 双阳极铝/镁源 XPS
带单色器 RMC50 的 X 射线源 根据布拉格X射线衍射定律 高光子强度 小光斑工作模式
PREVAC 半球形能量分析仪EA15-HP50 高分辨率 PES 测量
半球形能量分析仪EA15-HP5 高分辨率 PES 测量 MCP-CCD 探测器 HiPace 300 涡轮分子泵
低温积液池 EF 40LT1 低温渗液池 低温沉积池
双丝积液池 EF 40C1DF 双丝沉积池 适用于任何 MBE 系统 无钼结构
积液池 EF 40C1 渗液池 克努森池 无钼结构 用于 MBE 系统
电子束蒸发器 EBV 40A1 超纯亚单层和多层 MBE 薄膜生长
用于2 英寸目标的磁控管源 63CF 溅射工艺 M600DC-PS 电源
用于3英寸目标的磁控管源 160 ISO-K 溅射工艺 磁控溅射源
石英天平 QO 40A1 测量涂层厚度 蒸发膜和溅射镀膜
光束通量监测器 MBE 应用 光束等效压力 BEP
光束通量监测器 MBE 应用 光束等效压力 BEP
石英天平 QO 40A1 测量涂层厚度 蒸发膜和溅射镀膜
用于3英寸目标的磁控管源 160 ISO-K 溅射工艺 磁控溅射源
用于2 英寸目标的磁控管源 63CF 溅射工艺 M600DC-PS 电源
电子束蒸发器 EBV 40A1 超纯亚单层和多层 MBE 薄膜生长
积液池 EF 40C1 渗液池 克努森池 无钼结构 用于 MBE 系统
双丝积液池 EF 40C1DF 双丝沉积池 适用于任何 MBE 系统 无钼结构
低温积液池 EF 40LT1 低温渗液池 低温沉积池
半球形能量分析仪EA15-HP5 高分辨率 PES 测量 MCP-CCD 探测器 HiPace 300 涡轮分子泵
PREVAC 半球形能量分析仪EA15-HP50 高分辨率 PES 测量
带单色器 RMC50 的 X 射线源 根据布拉格X射线衍射定律 高光子强度 小光斑工作模式
X 射线源 RS 40B1 双阳极铝/镁源 XPS
带单色器的紫外光源 用于纳米结构研究 高功率单色紫外光源 布拉格衍射 紫外线辐射
紫外线源 UVS 40A2 高强度光子源 紫外光电子能谱 UPS
离子源 IS 40E1 离子枪 用于XPS，ISS和SIMS中的深度剖析 样品表面清洁
离子源 IS 40C1 离子枪 高离子束电流 用于样品表面清洁 具有高斯光束轮廓
洪水源 FS 40A1 电子枪 电子驱动源 半导体电荷中和 XPS AES SIMS
电子源 ES 40C1 用于 扫描应用 AES 成像 EELS 和电子脉冲或解吸实验 （ESD）
PREVAC 热解吸光谱仪 TDS 40A1 升温解吸 TPD
PREVAC 半球能量分析仪 EA15 PES测量
波兰 PREVAC MBE分子束外延设备 Advanced MBE systems，适用于单晶的薄膜沉积，具有磁性能、形貌、晶体学、薄膜厚度等原位表征功能
波兰 PREVAC MBE分子束外延设备 Standard MBE systems
波兰 PREVAC 分子束外延设备 Mini MBE systems，MBE分子束外延设备
波兰 PREVAC 磁控溅射系统 Semi-industrial MS systems
波兰 PREVAC 磁控溅射系统 Advanced MS systems
波兰 PREVAC 磁控溅射系统 Standard MS systems
波兰 PREVAC 磁控溅射系统 032 PRIMS basic MS system，用于可重复的薄膜层应用
PREVAC X射线源 X-ray Source RS 40B1
PREVAC 紫外源UV Source UVS 40A2
PREVAC 离子源 IS 40E1 离子枪
PREVAC 磁控管源 MS2 100 ISO-K 溅射镀膜
PREVAC 磁控管源 MS2 63C1 溅射镀膜
PREVAC 离子源 Ion Source IS 40C1 紧凑型离子源
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