热脱附光谱仪 TDS 40A1
TDS 40A1 专为程序升温脱附 （TPD） 应用而设计。
TPD 包括在 UHV 条件下加热样品，并同时测量作为样品温度函数的解吸气体种类的数量。定制设计的锥形采样端件可确保对解吸物质的最佳响应。
技术
| 安装法兰 | DN 40 CF （不可旋转） |
| 烘烤温度 | 最高 150 °C |
| 插入长度 | 190 mm （可根据要求提供），外径： 36.8 mm |
| 质量范围 | 1 至 300 AMU |
| 质量过滤器 | 四极杆 |
| 检测器类型 | 电子倍增器 （EM） |
| 分辨率 | 优于 0.5 AMU |
| 敏感性 | 2×10-4A/Torr （FC）、 |
| 最小可检测分压 | 5×10-11托尔 （FC）， 5×10-14托尔 （EM） |
| 工作压力 | < 10-4Torr 至 UHV （FC） < 10-6Torr 至 UHV （EM） |
特征
- 完全可编程
- 独特的耗材设计
- 宽工作温度范围
选项
- 四极杆 MS：100、200 或 300 amu
- 高稳定性线性移位
- 差动泵送（1 级）
