英国 Phosphor Technology 热成像荧光粉
温度影响荧光粉的发射特性是一种公认的现象。这些特性包括发射强度、峰值波长（发射和激发）、光谱形状、衰减和上升时间。通过测量这些特性中的一种或多种，可以确定荧光粉的温度。以这种方式使用的荧光粉称为热成像荧光粉，通过将它们合并到系统中，可以确定系统的温度。
峰值波长的变化通常不够大，不足以用于测量温度。一个例外是 Y 的激发峰值2O3：Eu，已被证明可以移动到 0.6nm/K。
随着温度的升高，所有材料的发射强度都会降低。发光测温的早期努力着眼于这一点，但难以进行足够准确的测量意味着现在采用了其他技术。
一种常见的技术是测量两个发射峰的比率。该材料通常包含具有多个发射峰的单个镧系元素激活剂，或两个不同的激活剂，每个活化剂都有自己的发射峰。提高温度会改变这个比率。能量激发态较高的峰的发射强度将相对于能量激发态较低的峰增加。
另一种常见的技术是测量荧光粉发射的衰减时间。测量荧光粉的单个发射带以了解衰减时间的变化。此技术和先前的技术很有用，因为它们具有自我参考功能，限制了外部因素对结果的影响。
作为衰减时间的替代方法，可以测量上升时间。温度将影响电子在激发能级中积累的速度。升高温度会缩短所需时间。通过测量发射强度达到最大所需的时间，可以确定温度。
这些荧光粉可用于工程领域（热障涂层、表面温度监测、流体流动分析、电路板等）和生物医学（细胞水平温度测量、肿瘤监测、诊断缺血等）领域的许多不同应用。以下是我们提供的热成像荧光粉的选择。
此处显示的材料在其等级中以“-X”名称结尾，要求客户指定其活化剂浓度。其他材料都有一个标准版本，但客户也可以指定这些材料的活化剂浓度。可以提供其他粒径，并可由客户指定。
除了此处所示的材料外，我们还可以根据客户的规格提供各种材料。如果您对未显示的热成像荧光粉有要求，请咨询。
