Four-Point Probe–四点探针
Ossila四点探针系统是一种易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻、电阻率和电导率。
以高规格制造Ossila源测量单元就其核心而言，Ossila四点探针是一种低成本系统，允许宽测量范围。探头使用弹簧接触代替尖针，防止损坏精密样品，如厚度在纳米量级的聚合物薄膜。价格包括一个四点探针、内置源测量单元、易于使用的PC软件和ITO涂层玻璃基板。
Ossila四探针系统通过三个特征降低了损坏精密薄膜的可能性。用于接触的探针具有圆形尖端(不像其他探针那样像尖针)。这些圆形尖端的半径为0.24毫米，使探针比针具有更大的接触表面积，因此分散了施加在样品上的向下的力。这些探针是镀金的，并安装在弹簧上，以促进电接触而无需过度的力，因为这使它们能够在与样品接触时缩回到探针头中，以确保施加60克的均匀力。探头的示意图如下图所示。
四点探针测量规格
| 电压范围 | 100 μV至10 V |
| 电流范围 | 1 μA至200 mA (5个范围) |
| 薄层电阻范围 | 100mω/□至10mω/□(每平方欧姆) |
| 薄层电阻 | 准确性* | 精度** | 在范围内测量 |
| 100mω/□ | 8% | 3% | 200毫安 |
| 1 Ω/□ | 2% | 0.5% | 200毫安 |
| 10 Ω/□ | 1% | 0.5% | 200毫安 |
| 100 Ω/□ | 1% | 0.05% | 20毫安 |
| 1kω/□ | 1% | 0.03% | 20毫安 |
| 10kω/□ | 1% | 0.02% | 2000年 |
| 100千欧/□ | 2% | 0.05% | 200安 |
| 1mω/□ | 8% | 0.5% | 20安 |
| 10mω/□ | 30% | 5% | 20安 |
*精确度是与真实值的最大偏差。
**精度是相同测量值之间的最大偏差(用于比较测量)。
物理设备规格
| 探针间距 | 1.27毫米 |
| 矩形样本大小范围 | 长边最小:5毫米短边最大:60毫米 |
| 圆形样品尺寸范围(直径) | 5毫米至76.2毫米 |
| 最大样品厚度 | 10毫米 |
| 总尺寸 | 宽:145毫米高:150毫米深:240毫米 |
